6H-SiC肖特基源漏MOSFET的研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩48頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、論文給出了6H-SiC SBSD-MOSFET的基本結(jié)構(gòu)及模型,并分析了其電流輸運(yùn)機(jī)制.根據(jù)其結(jié)構(gòu)特點(diǎn),我們可以將其看作是兩上背靠背的肖特基二極管.源漏區(qū)肖特基接觸界面的特性和常規(guī)肖特基二極管相似,電流的輸運(yùn)主要以熱電子發(fā)射和隧道效應(yīng)為主.通過二維模擬軟件MEDICI模擬了6H-SiC SBSD-MOSFET的基本伏安特性,并和常規(guī)SiC MOSFET特性進(jìn)行了比較,分析了源、漏、柵金屬功函數(shù)、柵氧化層厚度、柵長、襯底摻雜濃度和其它因素

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論