無(wú)關(guān)位在被測(cè)電路自己施加測(cè)試矢量方法中的研究與應(yīng)用.pdf_第1頁(yè)
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1、近年來(lái),集成電路技術(shù)日新月異。人們要求電路既要有強(qiáng)大的功能,又要有較高的可靠性。由于電路密度快速增加,而外部管腳數(shù)目因受幾何尺寸限制增加緩慢,在芯片外部很難對(duì)其進(jìn)行控制和觀測(cè)。于是,人們引入了可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法來(lái)解決這個(gè)問(wèn)題。內(nèi)建自測(cè)試是一個(gè)被廣泛使用的可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法。 最近,一種由被測(cè)電路自己施加測(cè)試矢量的內(nèi)建自測(cè)試方法被提出。該方法使用Mintest確定性測(cè)試集,對(duì)被測(cè)電路施加第一個(gè)測(cè)試矢量以后,將被測(cè)電路中一些內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的響

2、應(yīng)值用捕獲寄存器捕獲,把這些響應(yīng)值反饋到被測(cè)電路的輸入端作為下一個(gè)測(cè)試矢量。 本文對(duì)Mintest測(cè)試集中的無(wú)關(guān)位進(jìn)行了研究,提出了一種無(wú)關(guān)位賦值方法用來(lái)提高被測(cè)電路自己施加測(cè)試矢量方法的故障效率。參照電路內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的響應(yīng),對(duì)下一個(gè)要輸入的測(cè)試矢量中的無(wú)關(guān)位進(jìn)行合理賦值,可以延緩備選反饋節(jié)點(diǎn)數(shù)目的減少速度。這樣每一組反饋生成的屬于Mintest測(cè)試集的矢量個(gè)數(shù)就會(huì)更多。 在此基礎(chǔ)上,本文提出了一種基于被測(cè)電路自己施加測(cè)試矢

3、量方法一般反饋方式動(dòng)態(tài)變換無(wú)關(guān)位的方法。大部分電路的一般反饋方式需要進(jìn)行多組反饋才能達(dá)到期望的故障效率。每組反饋都能生成Mintest測(cè)試集中的部分矢量和一些額外的測(cè)試矢量,由于這些額外測(cè)試矢量可以檢測(cè)到一些新故障,剩余的確定性測(cè)試矢量需要檢測(cè)的故障數(shù)就少了。故障集減小,就可以在Mintest測(cè)試集剩余測(cè)試矢量中變換出更多的無(wú)關(guān)位。利用前一組反饋測(cè)試在剩余測(cè)試矢量中變換出更多的無(wú)關(guān)位,可以提高一般反饋測(cè)試最終的故障效率。 使用含

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