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1、隨著表面貼裝技術(shù)廣泛使用和印制電路板(PCB)密度的越來(lái)越高,采用增加電路測(cè)試點(diǎn)的傳統(tǒng)針床測(cè)試技術(shù)和增加附加的測(cè)試電路來(lái)對(duì)復(fù)雜電路進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試等方法,對(duì)提高超大規(guī)模集成電路(VLSI)的可測(cè)性十分有限而且通用性較差。為提高電路和系統(tǒng)的可測(cè)試性,聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組(JTAG)提出來(lái)了一種新的測(cè)試方法即邊界掃描技術(shù)。邊界掃描技術(shù)提供了針對(duì)電路板上器件的互連、器件功能等進(jìn)行測(cè)試的新方法,是一種完整的、標(biāo)準(zhǔn)化的可測(cè)性設(shè)計(jì)方法,對(duì)提高電路的可測(cè)試性,
2、降低電路板的維護(hù)和保障費(fèi)用具有重要的意義。
本文對(duì)邊界掃描技術(shù)的基本原理和方法進(jìn)行了深入地研究,建立了PCB功能模件故障的數(shù)學(xué)模型。在生成思想和故障診斷能力等方面,對(duì)經(jīng)典的邊界掃描測(cè)試矢量生成算法進(jìn)行了認(rèn)真地研究和總結(jié)。根據(jù)測(cè)試算法完備性和緊湊性的要求,提出了一種經(jīng)過(guò)優(yōu)化的等權(quán)值互連測(cè)試算法。該算法不僅繼承了等權(quán)值算法的緊湊性,而且降低了故障的征兆混淆率,是一種具有優(yōu)良性能的算法。
本文設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了邊界掃描的測(cè)
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