皮層腦電監(jiān)護下切除顱內(nèi)病變術(shù)后癲癇的臨床研究.pdf

1、目的：1.研究皮層腦電監(jiān)護下切除顱內(nèi)病變術(shù)后癲癇的發(fā)生率；2.探討顱內(nèi)病變切除術(shù)后癲癇發(fā)生的影響因素。 方法：回顧性分析我科134例顱內(nèi)病變患者，所有患者均在皮層腦電監(jiān)護下手術(shù)（監(jiān)護組），開顱后先行皮層腦電監(jiān)測，病變切除后重復(fù)描記皮層腦電圖，對仍有癲癇波區(qū)域的大腦皮層予低功率電凝，至棘、尖波完全消失或明顯減少，術(shù)后根據(jù)皮層腦電圖情況決定是否預(yù)防性用藥；隨機收集同期150例未在皮層腦電監(jiān)護下手術(shù)患者資料（對照組），僅作病變切除。隨

2、訪比較兩組患者術(shù)后癲癇發(fā)生情況，并將所有患者的性別、年齡、術(shù)前癲癇史、病變性質(zhì)、部位、大小、切除程度等作為影響因素與術(shù)后早發(fā)癲癇進行多因素Logistic回歸分析，晚發(fā)癲癇與早發(fā)癲癇的相關(guān)性采用X2檢驗。 結(jié)果：皮層腦電監(jiān)護組術(shù)后早發(fā)癲癇和晚發(fā)癲癇的發(fā)生率分別為16.42％和13.27％，對照組為28.67％和28.57％，兩組間術(shù)后癲癇發(fā)生率差異有統(tǒng)計學(xué)意義。術(shù)后早發(fā)癲癇的發(fā)生與病變部位、病變大小、術(shù)前癲癇史、病變切除程度有關(guān)