靜電放電抗擾度的檢測方法的檢測方法

1、第1頁共4頁靜電放電抗擾度的檢測方法靜電放電抗擾度的檢測方法GBT7261共對11項電磁兼容試驗加以要求：1、1MHz和100kHz脈沖群抗擾度試驗2、靜電放電抗擾度試驗3、輻射電磁場抗擾度試驗4、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗5、浪涌抗擾度試驗6、射頻場感應的傳導騷擾的抗擾度試驗7、工頻抗擾度試驗8、工頻磁場抗擾度試驗9、脈沖磁場抗擾度試驗10、阻尼振蕩磁場抗擾度試驗11、電磁發(fā)射試驗中試部聯(lián)合基礎硬件部共同開展的試驗項目為：靜電放電抗擾

2、度試驗、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗、浪涌抗擾度試驗。靜電放電抗擾度試驗靜電放電抗擾度試驗參考標準為《GBT14598.141998量度繼電器和保護裝置的電氣干擾試驗第2部分：靜電放電試驗》。1、為什么要進行靜電放大抗擾度試驗、為什么要進行靜電放大抗擾度試驗靜電產(chǎn)生的危害：靜電產(chǎn)生的危害：在干燥的大氣環(huán)境和有合成織物的場所容易產(chǎn)生靜電電荷，操作者的身體可直接接地或經(jīng)靜電感應而產(chǎn)生電荷。電子設備損壞多數(shù)為靜電所致，靜電對集成電路、光電器件等

3、的損害很嚴重。像CMOS器件絕緣層的典型厚度已達到0.1μm以下，其相應耐擊穿電壓大致80至100V。某些VMOS的耐擊穿電壓只有30V，而千兆位DRAM耐壓僅為10至20V。在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)和運輸、儲存等過程中產(chǎn)生的靜電電壓遠大于上述閾值，造成微電子器件產(chǎn)生擊穿（或）軟擊穿，使之失效或嚴重影響產(chǎn)品可靠性。2、試驗標準及試驗方法介紹、試驗標準及試驗方法介紹試驗目的：試驗目的：本試驗的目的是證明被試量度繼電器和保護裝置在被激勵并受靜電放電

4、影響時不會誤動作。試驗對象：試驗對象：所選擇的供試驗用的點應當是在正常工作條件下操作者易于接近的部位，包括去掉量度繼電器或保護裝置外殼才能接近的整定調整部位，但不包括去掉外罩之后還需要去掉任一部分（例如某個插件）才能整定調整的部位，對僅為了修理和維護的目的才第3頁共4頁空氣放電法是將試驗發(fā)生器已充電的電極接近被試量度繼電器或保護裝置，由火花觸發(fā)對被試量度繼電器或保護裝置進行放電的一種試驗方法。操作方法：靜電槍選用AIR檔位，放電探頭選用

5、圓頭狀探頭。放電電極的放電尖端應接近并盡可能地快速碰及被試量度繼電器或保護裝置而不致造成機械性損傷。在每次放電后，放電電極應離開被試量度繼電器或保護裝置，而重新觸發(fā)發(fā)生器，進行新的單次放電。這一過程應多次重復，直到完成規(guī)定的放電次數(shù)。電壓等級如下表：試驗電壓（5％）等級接觸放電空氣放電0－－12kV2kV24kV4kV36kV8kV48kV15kV3、測試項目的實際應用、測試項目的實際應用結合測試對象的應用介紹。試驗對象：試驗對象：實際

6、操作中，手指可以觸碰，有靜電危害隱患的部位，如保護裝置的前面板（液晶、人機接口）、裝置外殼（網(wǎng)關、GPS裝置等）。因為裝置入屏安裝后，正常操作的只有前面板的人機接口及裝置的外殼，而裝置內(nèi)部的芯片、模塊等部件因為日常操作不會接觸到，不進行此項測試。測試項目舉例：測試項目舉例：以液晶測試為例。【測試要求】：進行等級為Ⅳ的靜電放電抗擾度試驗，試驗中及試驗后觀察液晶的顯示狀況。【測試結果】：可以滿足液晶說明書規(guī)定，試驗結果見表5。靜電放電抗擾度