電子系統(tǒng)測試性設(shè)計優(yōu)化方法研究.pdf

1、隨著電子產(chǎn)品的集成性的提高，電子系統(tǒng)越來越復(fù)雜，對電子系統(tǒng)測試性的要求也越來越高。電子系統(tǒng)測試性研究主要表現(xiàn)在兩個方面：系統(tǒng)整體測試資源的配置與分配，和提高測試性研究方法的效率與精度。這對保證電子系統(tǒng)的故障診斷能力和降低系統(tǒng)測試檢修成本有著至關(guān)重要的作用。為了提高系統(tǒng)的可檢測性，通常在系統(tǒng)的設(shè)計之初就將測試性納入考慮范圍之內(nèi)。本文的主要研究工作如下：
　　1.簡單介紹了電子系統(tǒng)測試性建模方法，這是電子系統(tǒng)測試性研究的基礎(chǔ)。文中著重

2、介紹了多信號模型，包括多信號模型的概念、方法及優(yōu)勢，并舉例介紹了該模型對于電子系統(tǒng)的測試性建模方法。另外還介紹了不可靠測試條件下的電子系統(tǒng)測試性模型。
　　2.對序貫測試問題及其常用優(yōu)化算法進(jìn)行了簡單描述，并提出基于改進(jìn)遺傳規(guī)劃的序貫測試優(yōu)化算法。序貫測試問題是電子系統(tǒng)測試性研究中的一個經(jīng)典問題，當(dāng)前國內(nèi)外幾乎所有關(guān)于序貫測試問題的解法都是基于啟發(fā)式搜索算法，文中以與或圖搜索AO*算法為例，對啟發(fā)式搜索算法進(jìn)行了介紹。本文考慮采用

3、進(jìn)化算法思想來進(jìn)行序貫測試求解問題，提出了基于改進(jìn)遺傳規(guī)劃的序貫測試優(yōu)化算法。該算法的基本思想在于從一群隨機(jī)生成的效果較差的故障診斷樹中進(jìn)化出最優(yōu)或近優(yōu)的序貫故障搜索策略，優(yōu)化過程簡單且容易理解，實(shí)驗結(jié)果證明其優(yōu)化效果基本令人滿意。
　　3.對不可靠測試條件下的電子系統(tǒng)測試性問題進(jìn)行了介紹，并提出分組編碼遺傳算法，用于解決分工序電子系統(tǒng)測試優(yōu)選問題。文中首先介紹了該問題研究的現(xiàn)實(shí)意義，然后就幾種用于解決該問題的傳統(tǒng)思想進(jìn)行了描述。