電子系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)優(yōu)化方法研究.pdf

1、隨著電子產(chǎn)品的集成性的提高，電子系統(tǒng)越來(lái)越復(fù)雜，對(duì)電子系統(tǒng)測(cè)試性的要求也越來(lái)越高。電子系統(tǒng)測(cè)試性研究主要表現(xiàn)在兩個(gè)方面：系統(tǒng)整體測(cè)試資源的配置與分配，和提高測(cè)試性研究方法的效率與精度。這對(duì)保證電子系統(tǒng)的故障診斷能力和降低系統(tǒng)測(cè)試檢修成本有著至關(guān)重要的作用。為了提高系統(tǒng)的可檢測(cè)性，通常在系統(tǒng)的設(shè)計(jì)之初就將測(cè)試性納入考慮范圍之內(nèi)。本文的主要研究工作如下：
　　1.簡(jiǎn)單介紹了電子系統(tǒng)測(cè)試性建模方法，這是電子系統(tǒng)測(cè)試性研究的基礎(chǔ)。文中著重

2、介紹了多信號(hào)模型，包括多信號(hào)模型的概念、方法及優(yōu)勢(shì)，并舉例介紹了該模型對(duì)于電子系統(tǒng)的測(cè)試性建模方法。另外還介紹了不可靠測(cè)試條件下的電子系統(tǒng)測(cè)試性模型。
　　2.對(duì)序貫測(cè)試問(wèn)題及其常用優(yōu)化算法進(jìn)行了簡(jiǎn)單描述，并提出基于改進(jìn)遺傳規(guī)劃的序貫測(cè)試優(yōu)化算法。序貫測(cè)試問(wèn)題是電子系統(tǒng)測(cè)試性研究中的一個(gè)經(jīng)典問(wèn)題，當(dāng)前國(guó)內(nèi)外幾乎所有關(guān)于序貫測(cè)試問(wèn)題的解法都是基于啟發(fā)式搜索算法，文中以與或圖搜索AO*算法為例，對(duì)啟發(fā)式搜索算法進(jìn)行了介紹。本文考慮采用

3、進(jìn)化算法思想來(lái)進(jìn)行序貫測(cè)試求解問(wèn)題，提出了基于改進(jìn)遺傳規(guī)劃的序貫測(cè)試優(yōu)化算法。該算法的基本思想在于從一群隨機(jī)生成的效果較差的故障診斷樹(shù)中進(jìn)化出最優(yōu)或近優(yōu)的序貫故障搜索策略，優(yōu)化過(guò)程簡(jiǎn)單且容易理解，實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明其優(yōu)化效果基本令人滿意。
　　3.對(duì)不可靠測(cè)試條件下的電子系統(tǒng)測(cè)試性問(wèn)題進(jìn)行了介紹，并提出分組編碼遺傳算法，用于解決分工序電子系統(tǒng)測(cè)試優(yōu)選問(wèn)題。文中首先介紹了該問(wèn)題研究的現(xiàn)實(shí)意義，然后就幾種用于解決該問(wèn)題的傳統(tǒng)思想進(jìn)行了描述。