電子產(chǎn)品的加速貯存可靠性模型及統(tǒng)計分析.pdf

1、貯存可靠性是一項復(fù)雜的系統(tǒng)工程。研究貯存可靠性不僅有重大的經(jīng)濟意義，而且有重要的軍事意義。貯存期短，就會不必要地提前更換有關(guān)的元器件和零部件，造成巨大的人力，物力和經(jīng)濟浪費。如果盲目地把貯存期定長了，輕則會影響產(chǎn)品使用效果，重則可能造成重大事故。因此貯存可靠性的相關(guān)知識，一直是大家希望了解的問題。 依據(jù)目前國際形勢和電子設(shè)備系統(tǒng)應(yīng)用的要求，電子設(shè)備必須適應(yīng)長期貯存、隨時可用和能用的特點，因此迫切要求電子元件能夠滿足最少貯存壽命。

2、尤其對于長期貯存、一次使用的電子設(shè)備系統(tǒng)，其貯存壽命及貯存可靠性是一項重要技術(shù)指標(biāo)，它既關(guān)系到電子產(chǎn)品的安全貯存和有效使用，又關(guān)系到產(chǎn)品的不合理報廢造成的經(jīng)濟和損失，所以電子產(chǎn)品的貯存可靠性更是非常重要。 本文把加速壽命試驗應(yīng)用到電子產(chǎn)品的貯存過程中，結(jié)合TTT-plot法對產(chǎn)品的加速失效數(shù)據(jù)進行分布預(yù)測，再根據(jù)所得到的壽命分布對貯存期電子產(chǎn)品的可靠性、壽命進行預(yù)測，最后根據(jù)壽命—應(yīng)力模型得到正常貯存條件下產(chǎn)品的可靠性及可靠壽命

3、。這中間本文也考慮了與任務(wù)時間相結(jié)合的可靠性模型，采取加速貯存與加速使用相結(jié)合的方法對產(chǎn)品的可靠性和壽命進行了預(yù)測。 論文共由前言、九章內(nèi)容組成，各章節(jié)的主要結(jié)論如下： 前言，闡述了問題的提出、研究的技術(shù)路線和主要方法。 第一章，基本概念與理論基礎(chǔ)的綜述，主要對國內(nèi)外研究現(xiàn)狀、加速貯存試驗技術(shù)的研究背景、加速壽命試驗的分類與相關(guān)加速模型做了介紹；以及貯存可靠性相關(guān)概念的介紹。 第二章，提出具有初始失效的加

4、速貯存可靠性模型，并給出了初始失效的概念、加速貯存試驗的定義、加速貯存可靠性研究的意義。 第三章，利用圖形法(TTT-plot)對未知分布的產(chǎn)品的加速失效數(shù)據(jù)進行壽命分布類型的預(yù)測，思路是：先利用同等應(yīng)力下的失效壽命數(shù)據(jù)預(yù)估產(chǎn)品的壽命分布，然后再把不同應(yīng)力水平下的失效數(shù)據(jù)折算到同一應(yīng)力下的相當(dāng)失效數(shù)據(jù)，再進行驗證產(chǎn)品的壽命分布。并用實例對完整數(shù)據(jù)和截尾數(shù)據(jù)這兩種類型的加速貯存數(shù)據(jù)進行了實際操作。 第四章，根據(jù)前人的基礎(chǔ)，

5、在具有初始失效的條件下，提出了電子產(chǎn)品的六種加速貯存可靠性模型；并對各個模型的參數(shù)做了估計。 第五章，對含有隱藏失效數(shù)據(jù)的加速貯存可靠性進行了研究，運用EM算法對Ⅱ-型截尾(失效數(shù)的截尾)加速貯存試驗中的失效數(shù)據(jù)進行了分析，并給出了非齊次泊松過程情況下的參數(shù)估計的步驟。 第六章，給出了貯存與使用相結(jié)合的加速貯存可靠性模型，對先加速貯存后加速使用的可靠性模型進行了相應(yīng)的統(tǒng)計分析，并以實例的形式給出了先加速使用后加速貯存情況

6、下產(chǎn)品的可靠性預(yù)測、壽命特征等。 第七章，利用壽命—應(yīng)力模型對加速貯存可靠性與正常貯存可靠性進行了轉(zhuǎn)化，對以溫度為加速應(yīng)力、以濕度為加速應(yīng)力、以溫-濕度混合為加速應(yīng)力三種情況做了詳細的統(tǒng)計分析，給出了正常情況下產(chǎn)品的貯存可靠性與壽命特征。 第八章，總結(jié)了提高電子產(chǎn)品貯存可靠性的技術(shù)途徑。 第九章，論文小結(jié)。 本文對貯存期電子產(chǎn)品的可靠性進行了研究，并在研究方法上進行了新的探索，可能的創(chuàng)新之處包括：1、把加