改進(jìn)SEIR方法的高精度ADC測試研究.pdf

1、高精度ADC測試一直是混合信號測試中的難點(diǎn)。傳統(tǒng)的ADC測試都是使用比被測ADC精度更高的信號源，盡管這些信號源可以產(chǎn)生高精度的測試信號，但是其精度往往不能達(dá)到標(biāo)稱要求，導(dǎo)致高精度ADC的測試成本昂貴甚至難以全面測試，因此如何最大程度地減小信號源誤差已成為全面測試高精度ADC的研究重點(diǎn)。
　　論文首先介紹了高精度ADC的基本測試方法，包括傳統(tǒng)的直方圖法和FFT方法，分析了已有的SEIR(信號源誤差的辨別和減小)方法，重點(diǎn)基于傅里葉

2、級數(shù)展開改進(jìn)了SEIR方法中的算法，并且基于這種改進(jìn)算法提出一種高精度ADC的測試方案，即在測試電路中引入幾組相干的低精度信號計(jì)算出信號源中存在的誤差，并將它從信號源中最大程度移除，從而更加準(zhǔn)確地估計(jì)高精度ADC的參數(shù)。論文對改進(jìn)的SEIR算法和ADC的測試電路進(jìn)行matlab仿真驗(yàn)證，仿真了8位、12位和16位的ADC，仿真結(jié)果證明：改進(jìn)的方法提高了基本SEIR方法的測試精度，并且與標(biāo)稱的實(shí)際值相比誤差小于5％。
　　論文基于N