高速高精度pipeline ADC測(cè)試的研究.pdf

1、高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）被廣泛應(yīng)用于無(wú)線通訊、軍事等領(lǐng)域，其需求量大大增加；同時(shí)，當(dāng)前國(guó)外發(fā)達(dá)國(guó)家對(duì)中國(guó)實(shí)行了高速高精度 ADC的出口許可證限制制度，使得國(guó)內(nèi)在 ADC測(cè)試這一領(lǐng)域較為落后，因此研究高速高精度 ADC測(cè)試技術(shù)具有十分重要的現(xiàn)實(shí)意義。
　　本文工作的重點(diǎn)是在給出高速高精度 ADC參數(shù)指標(biāo)定義的基礎(chǔ)上，研究高速高精度 ADC測(cè)試?yán)碚摵头椒?，完成?duì)高速高精度 ADC的測(cè)試。本文選取了ADI公司生產(chǎn)的12Bit，40Msp

2、s高速高精度 pipeline ADC AD9224作為測(cè)試芯片，主要研究?jī)?nèi)容和結(jié)果包含以下幾個(gè)方面：首先，對(duì) ADC測(cè)試的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)指標(biāo)、相干采樣原理及兩種基本的測(cè)試方法進(jìn)行了詳細(xì)的介紹；接著，完整描述了AD9224測(cè)試板的基本結(jié)構(gòu)組成和功能，對(duì)其測(cè)試模塊電路進(jìn)行原理性分析，并給出了AD9224測(cè)試板的結(jié)構(gòu)原理圖；然后，通過(guò)對(duì)電磁完整性 EMI、信號(hào)完整性 SI和電源完整性 PI等相關(guān)方面問題的分析，制定了AD9224電路測(cè)試 P

3、CB板；最后，對(duì) AD9224的部分性能指標(biāo)進(jìn)行了較詳細(xì)的測(cè)試和檢驗(yàn)。
　　實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，在條件為40M時(shí)鐘采樣1M輸入信號(hào)下的靜態(tài)測(cè)試結(jié)果為：DNL為-0.34LSB~0.38LSB，INL為-0.6LSB~0.6LSB；在條件為40M時(shí)鐘采樣2.5M輸入信號(hào)下的動(dòng)態(tài)測(cè)試結(jié)果為：SNR為69.79dB，有效位數(shù)為11.07位。本文研究完成的高速測(cè)試評(píng)估板與搭建的測(cè)試系統(tǒng)對(duì) ADC進(jìn)行測(cè)試的思路完全可行，該測(cè)試技術(shù)可應(yīng)用于高速高精