腦外傷者認知功能障礙與P300及P50電位變化研究.pdf

1、目的：（1）探討神經(jīng)心理學測驗在腦外傷者認知功能障礙評定中的應用；（2）分析不同程度認知障礙者的P300及P50電位波形特點及差異，尋找評定腦外傷者認知障礙的法醫(yī)學客觀輔助指標。
　　 方法：（1）對腦外傷后認知障礙者進行中國修訂韋氏成人智力量表、韋氏記憶量表中國修訂本及第四版計算機化神經(jīng)行為評價系統(tǒng)部分項目等神經(jīng)心理學測驗，按照原發(fā)性損傷程度將患者分為輕、中、重型組，同時按照專家鑒定意見分為較輕、中度、較重三個不同認知障礙組，

2、對測驗結(jié)果進行分析。（2）對腦外傷后不同程度認知障礙者及正常對照組人群進行視覺P300電位及聽覺P50電位測試。
　　 結(jié)果：（1）腦外傷輕型、中型、重型三組間神經(jīng)心理學測驗半數(shù)項目得分無統(tǒng)計學差異；其余多數(shù)項目輕型組得分高于中、重型組，且具有統(tǒng)計學差異，中、重型組間差異無統(tǒng)計學意義。專家鑒定三組不同程度認知障礙間所有項目較重組得分低于中度組，其中多數(shù)具有統(tǒng)計學差異；韋氏智力測驗四個分項目得分較輕組與較重組基本接近，其中三個分項

3、目得分較輕組甚至低于中度組，差異具有統(tǒng)計學意義。（2）與對照組相比，中度、較重認知障礙組P300出現(xiàn)明顯的潛伏期延長及波幅下降，而較輕認知障礙組P300潛伏期、波幅較對照組無統(tǒng)計學差異，按鍵命中率卻顯著最低；各組P300波幅均以Cz點最高，但不同記錄點間并未形成統(tǒng)計學差異；不同程度認知障礙組N200較對照組潛伏期有所延長、波幅有所下降，但未能形成統(tǒng)計學差異。（3）P50潛伏期在不同認知障礙組間無明顯差異；中度、較重認知障礙組P50抑制率

4、均顯著高于正常對照組及較輕認知障礙組，而后兩者之間的P50抑制率無顯著統(tǒng)計學差異。
　　 結(jié)論：（1）原發(fā)性腦外傷與認知障礙嚴重程度可能并不完全平行，認知障礙相對較輕的患者在神經(jīng)心理學測驗中更容易發(fā)生夸大或偽裝，尤其是在常用的韋氏成人智力測驗中。（2）P300潛伏期延長和波幅下降可作為腦外傷者認知功能下降的客觀指標，P300比N200在反映受試者認知功能方面更加全面穩(wěn)定。（3）P50潛伏期并不能作為衡量腦外傷后認知障礙者的有效指