聚酰亞胺-三氧化二鋁復(fù)合薄膜耐電暈性能及機(jī)理.pdf_第1頁(yè)
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1、聚合物因其優(yōu)異的電學(xué)、熱學(xué)和力學(xué)性能,廣泛應(yīng)用于電氣絕緣、變頻電機(jī)、燃料電池、航空航天等領(lǐng)域。隨著納米技術(shù)的發(fā)展進(jìn)步,聚合物基納米復(fù)合材料的設(shè)計(jì)與研制已成為材料科學(xué)研究的熱點(diǎn)。本文利用具有較大比表面積和電阻率相對(duì)較低的Al2O3雜化聚酰亞胺,研究復(fù)合薄膜耐電暈性能及機(jī)理。
  采用原位聚合法制備不同組分單層、三層PI/Al2O3聚酰亞胺基納米復(fù)合薄膜。利用X射線衍射、透射電鏡、掃描電鏡等方法研究薄膜結(jié)構(gòu)。結(jié)果表明,Al2O3使聚酰

2、亞胺衍射峰強(qiáng)度下降,取向程度降低;納米Al2O3的粒徑為10~20nm,與聚酰亞胺形成了低密度的界面層,界面層厚度為3~6nm;三層薄膜中間層、雜化層厚度約為10μm,少量Al2O3向中間層擴(kuò)散。
  采用電暈測(cè)試設(shè)備、表面電阻測(cè)試裝置、電導(dǎo)電流測(cè)試系統(tǒng)、介電譜儀測(cè)試薄膜的耐電暈性能、表面電阻、老化擊穿閾值電場(chǎng)、體積電阻率,并使用原子力顯微鏡和掃描電鏡分析薄膜老化速率和表面形貌。結(jié)果表明,三層薄膜比單層薄膜具有更好的耐電暈性能,A

3、l2O3含量為20wt.%的三層復(fù)合薄膜(PI/Al2O320wt.%)耐電暈壽命最長(zhǎng),約為純PI的27.8倍;隨著納米Al2O3的增加,薄膜的表面電阻顯著下降,勻化電場(chǎng)能力提高;電暈過(guò)程中,PI/Al2O320wt.%的表面老化速率明顯小于純PI;納米Al2O3導(dǎo)致薄膜的電導(dǎo)電流明顯增大,陷阱數(shù)量增加,PI/Al2O320wt.%的老化擊穿閾值電場(chǎng)最高;Al2O3與聚酰亞胺通過(guò)界面有機(jī)結(jié)合在一起,形成電暈阻擋層;隨著納米Al2O3含量

4、的增加,薄膜的體積電阻率單調(diào)下降,三層薄膜比單層薄膜具有更高的體積電阻率。
  在實(shí)驗(yàn)結(jié)果基礎(chǔ)上,提出三層薄膜耐電暈機(jī)理。雜化層中,Al2O3降低薄膜表面電阻,勻化表面電場(chǎng),減小單位面積表面老化速率;引入較多陷阱能級(jí),提高電導(dǎo)電流,使載流子在Al2O3和界面層中輸運(yùn),減小載流子碰撞缺陷的幾率,同時(shí),減小熱載流子產(chǎn)生的幾率;Al2O3比表面積很大,緊密結(jié)合聚酰亞胺,形成化學(xué)性質(zhì)非常穩(wěn)定的電暈阻擋層。中間層相對(duì)提高薄膜體積電阻率,減少

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