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文檔簡介
1、如今，集成電路產(chǎn)業(yè)飛速發(fā)展，IC產(chǎn)品變得功能多、速度快、功耗低、封裝微型化的同時，問題也隨之而來:第一，IC功能增多，一個芯片往往集成了數(shù)百萬至數(shù)千萬不止的元器件，引腳數(shù)目增多，集成度增高;第二，封裝技術(shù)復雜化、微型化致使每個單元之間的連線越加狹窄，引腳間越加細密。這些無疑都增加了IC測試的時間、功耗與難度，降低了芯片物理訪問性。傳統(tǒng)基于物理接觸的測試技術(shù)根本無法跟上1C發(fā)展的步調(diào)，IC測試遭遇瓶頸。在此背景下，可測性設計方法被提出，并
2、以其簡捷、自動化的特點高效的克服了上述問題，被迅速推廣應用于各個領(lǐng)域。
本文的主要工作是采用IEEE1149.1標準實現(xiàn)針對數(shù)字電路的邊界掃描自測試結(jié)構(gòu)的設計。通過一個16位狀態(tài)機的邊界掃描控制器協(xié)調(diào)控制各個測試存取通道和各類寄存器模塊，實現(xiàn)測試向量的加載、移位、更新、測試響應的捕獲。最后將測試控制電路、被測電路、測試分析電路整體下載至開發(fā)板，實施對電路故障的診斷，達到自測試的目的。設計中采用LFSR生成一系列二進制偽隨機數(shù)作
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