硬件產(chǎn)品概念設(shè)計階段缺陷形成機理及其控制研究.pdf

1、產(chǎn)品設(shè)計缺陷形成于設(shè)計過程,任一階段處理不當(dāng)都會對產(chǎn)品的功能和性能產(chǎn)生不同程度的影響,從而產(chǎn)生設(shè)計缺陷。設(shè)計開發(fā)過程的概念設(shè)計階段,對產(chǎn)品最終質(zhì)量的形成起到?jīng)Q定性作用,可能導(dǎo)致出現(xiàn)產(chǎn)品的功能缺陷和結(jié)構(gòu)缺陷。本文從技術(shù)和管理的角度,定性和定量兩方面相結(jié)合全面分析了硬件產(chǎn)品概念設(shè)計階段缺陷與缺陷因素間的關(guān)系,并提出了概念設(shè)計缺陷的評估方法和控制措施。
　　論文首先對產(chǎn)品設(shè)計缺陷的定義入手,分析了硬件產(chǎn)品設(shè)計開發(fā)模式,從過程管理的角度分

2、析了概念設(shè)計階段缺陷的形成機理;詳細(xì)研究了硬件產(chǎn)品概念設(shè)計過程中的各基本設(shè)計活動,并運用過程方法的思想,分析概念設(shè)計過程中各活動的輸入、輸出、轉(zhuǎn)換活動所需資源和所處環(huán)境、監(jiān)測評價等六要素,即概念設(shè)計缺陷的影響因素,通過概念設(shè)計活動與影響因素的關(guān)系構(gòu)建設(shè)計缺陷過程要素模型,并通過模糊層次分析法對模型進(jìn)行定量描述。從設(shè)計缺陷形成過程的角度,根據(jù)設(shè)計活動間不同的時序關(guān)系,分析了設(shè)計活動內(nèi)和活動間的缺陷,最終確定設(shè)計活動對概念設(shè)計缺陷的影響程度