硬件產(chǎn)品工藝設(shè)計缺陷形成機(jī)理及其控制研究.pdf

1、硬件產(chǎn)品設(shè)計缺陷形成于產(chǎn)品設(shè)計周期全過程，設(shè)計過程的任一階段處理不當(dāng)都可能對產(chǎn)品的質(zhì)量產(chǎn)生不同程度的影響，從而導(dǎo)致設(shè)計缺陷的產(chǎn)生。設(shè)計開發(fā)過程的工藝設(shè)計階段是連接設(shè)計與制造的關(guān)鍵階段，工藝設(shè)計不合理可能導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)工藝設(shè)計缺陷，從而產(chǎn)生制造缺陷。本文從過程管理的角度，從定性和定量兩個方面對硬件產(chǎn)品工藝設(shè)計缺陷與缺陷因素之間的關(guān)系進(jìn)行系統(tǒng)分析，進(jìn)而提出產(chǎn)品工藝設(shè)計缺陷的控制策略。
　　論文首先定義了硬件產(chǎn)品工藝設(shè)計缺陷，對硬件產(chǎn)品工

2、藝設(shè)計過程中的主要設(shè)計活動及其內(nèi)容進(jìn)行分析和概括；分析了工藝設(shè)計缺陷的形成機(jī)理。其次，將主要工藝設(shè)計活動進(jìn)一步分解成基本子活動，應(yīng)用過程六要素方法，對各活動的缺陷因素進(jìn)行了分析，建立了各工藝設(shè)計活動缺陷因素的結(jié)構(gòu)關(guān)系模型。然后，結(jié)合工藝設(shè)計過程六要素方法，將FMEA應(yīng)用于缺陷風(fēng)險的識別，給出了工藝設(shè)計缺陷活動的嚴(yán)重度 S(Severity)、頻度 O(Occurrence)、探測度D(Detection)的評分等級，在考慮工藝設(shè)計缺陷活

3、動之間可能存在的互相影響的關(guān)聯(lián)性基礎(chǔ)上，提出了利用DEMATEL法對工藝缺陷活動的因素影響大小進(jìn)行定量化分析方法。此外，從工藝設(shè)計過程層次建立了硬件產(chǎn)品設(shè)計缺陷控制體系結(jié)構(gòu)，并對工藝設(shè)計控制活動關(guān)系和內(nèi)容進(jìn)行分析，結(jié)合過程六要素思想給出了硬件產(chǎn)品工藝設(shè)計缺陷控制措施。最后，以某型號飛機(jī)發(fā)動機(jī)裝配工藝設(shè)計為例，驗(yàn)證以上方法的可行性和科學(xué)性。
　　論文從設(shè)計過程角度對硬件產(chǎn)品工藝設(shè)計階段缺陷因素的結(jié)構(gòu)模型進(jìn)行了分析研究，基于FMEA技