EIT-WMT電極優(yōu)化設(shè)計(jì)及正問題研究.pdf

1、電阻抗層析成像技術(shù)(EIT)與絲網(wǎng)成像技術(shù)(WMT)是兩種電學(xué)層析成像技術(shù),通過對被測對象施加驅(qū)動(dòng)電流/電壓,測量被測場域的響應(yīng)信息,重建其內(nèi)部電學(xué)參數(shù)(如電導(dǎo)率、介電常數(shù))分布的圖像。由于其具有無輻射、非侵入、可視化、成本低、響應(yīng)速度快、結(jié)構(gòu)簡單等特點(diǎn),在工業(yè)測量和醫(yī)學(xué)監(jiān)護(hù)等領(lǐng)域中有廣闊的應(yīng)用前景。
　　為拓寬EIT/WMT技術(shù)的應(yīng)用范圍、提高測量精度、獲取更豐富的測量信息,本文借助大型有限元軟件COMSOL Multiphys

2、ics,對EIT/WMT的測量機(jī)理、驅(qū)動(dòng)方法、電極結(jié)構(gòu)等內(nèi)容進(jìn)行深入研究。主要內(nèi)容如下:
　　(1)借助大型有限元軟件COMSOL Multiphysics,建立EIT/WMT的三維物理模型,進(jìn)行電場仿真分析;
　　(2)為拓寬EIT的測量空間提出了多層電極結(jié)構(gòu)的EIT系統(tǒng),與單層電極結(jié)構(gòu)對比,分析了多層電極結(jié)構(gòu)的必要性,并設(shè)計(jì)了一套適合該系統(tǒng)的激勵(lì)/測量方法;
　　(3)為拓寬EIT的測量范圍提出了實(shí)部虛部相分離的方