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文檔簡介
1、隨著集成電路設(shè)計復(fù)雜性的提高,對其測試遇到越來越多的困難,此時可測性設(shè)計應(yīng)運而生,其中特別以BIST(Built-In Self-Test,內(nèi)建自測試)技術(shù)為代表,在集成電路設(shè)計中得到廣泛的應(yīng)用。但是BIST的偽隨機測試生成具有測試時間過長,測試功耗過高的缺點,嚴(yán)重影響了測試效率。如果不解決這些問題,勢必會影響B(tài)IST技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用。
針對這種情況,本文提出了基于LFSR(LinearFeedback Shift Regis
2、ter,線性反饋移位寄存器)—CA(Cellular Automata,細(xì)胞自動機)和遺傳算法優(yōu)化的低功耗BIST設(shè)計方案。該設(shè)計根據(jù)被測電路輸入端口的權(quán)值,構(gòu)造出相應(yīng)的加權(quán)CA,然后在LFSR和加權(quán)CA共同生成的加權(quán)偽隨機序列中插入若干中間向量,其作用是減少被測電路輸入端信號的翻轉(zhuǎn)次數(shù),同時又對故障覆蓋率有所貢獻(xiàn)。而中間向量的數(shù)目和每個向量變化的位置,都是通過遺傳算法的全局尋優(yōu)操作得到的。本設(shè)計將LFSR-CA和遺傳算法優(yōu)化的低功耗結(jié)
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