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1、集成電路產(chǎn)業(yè)的日新月異的發(fā)展和集成電路設(shè)計(jì)方法的不斷提高互為因果,是理論與實(shí)踐相互支持的良好典范.而隨著IC設(shè)計(jì)自動化程度的提高,集成電路規(guī)模不斷加大,仿真驗(yàn)證(verification)在設(shè)計(jì)中變得越來越關(guān)鍵.該文的重點(diǎn)就是研究功能驗(yàn)證,其研究成果已成功地運(yùn)用在作者所自行設(shè)計(jì)的8位RISC核--HGD08R01.該論文在綜合考慮芯片的性能、面積、時序等各方面因素,從結(jié)構(gòu)、指令通道、數(shù)據(jù)通道、以及電路的具體實(shí)現(xiàn)等方面入手對RISC的核進(jìn)
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