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文檔簡介
1、隨著半導(dǎo)體工藝的快速發(fā)展,基于IP核復(fù)用的SoC設(shè)計正逐漸成為集成電路設(shè)計的主流技術(shù)。作為IP核形式之一的IP軟核,靈活性高,在IP核復(fù)用中有很大優(yōu)勢。然而,IP軟核在實際應(yīng)用中,存在很多挑戰(zhàn)。使用高質(zhì)量的IP軟核,可以提高設(shè)計效率和設(shè)計質(zhì)量,反之,可能導(dǎo)致設(shè)計失敗。因此,對IP軟核進行評估,判斷IP軟核的質(zhì)量水平,為IP軟核選擇提供依據(jù)和便利,成為SoC設(shè)計的一項重要任務(wù)。 本文基于可復(fù)用設(shè)計方法學(xué),以IP軟核使用者的角度,著
2、重分析IP軟核質(zhì)量問題,提出IP軟核質(zhì)量指標(biāo),研究IP軟核質(zhì)量評估流程和方法。本文首先根據(jù)IP軟核現(xiàn)狀,總結(jié)IP軟核復(fù)用過程中可能存在的質(zhì)量問題。依據(jù)現(xiàn)狀和IP軟核使用者的要求,分析優(yōu)秀IP軟核的質(zhì)量特性,并提出IP軟核質(zhì)量指標(biāo)。然后以質(zhì)量指標(biāo)為指導(dǎo),將IP軟核評估工作分為可用性和性能考查兩個方面,評估內(nèi)容主要包括:交付項考查、驗證文件考查和軟核性能評估。給出各項評估內(nèi)容的考核依據(jù)和評估方法,主要包括交付項質(zhì)量評估、驗證文件質(zhì)量評估和I
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