高速圖像壓縮芯片高速自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)研究.pdf_第1頁(yè)
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1、隨著IC產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展，IC驗(yàn)證技術(shù)也在不斷的發(fā)展完善。在眾多的驗(yàn)證技術(shù)中，F(xiàn)PGA原型驗(yàn)證以其高速性的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)，在芯片的設(shè)計(jì)驗(yàn)證過(guò)程中占據(jù)著越來(lái)越重要的位置。
　　本文結(jié)合實(shí)驗(yàn)室研發(fā)高速圖像壓縮芯片的實(shí)際，為了配合芯片的測(cè)試工作，基于PCIE高速接口設(shè)計(jì)了一套適用于高速圖像壓縮芯片的FPGA驗(yàn)證平臺(tái)。論文首先分析了各種芯片驗(yàn)證技術(shù)，重點(diǎn)分析了芯片功能驗(yàn)證的重要性以及主要方法，介紹了FPGA的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、芯片的FPGA原型驗(yàn)證特點(diǎn)以

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