基于相容數(shù)據(jù)壓縮的LFSR重新播種方法研究.pdf

1、目前集成電路進入了超深亞微米的時代，采用90nm工藝的流水線已經(jīng)投入生產(chǎn)，這使得電子器件的特征尺寸越來越小，芯片的規(guī)模也越來越大，數(shù)千萬甚至超過10億門電路可以集成在單一的芯片上。這為系統(tǒng)集成開辟了更廣闊的應(yīng)用途徑，從而使當(dāng)前的系統(tǒng)集成設(shè)計成為一種“時尚”。把一個完整的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)集成在一個獨立的芯片上，實現(xiàn)一個完整的系統(tǒng)功能，即片上系統(tǒng)，這樣的芯片被稱為系統(tǒng)芯片SoC。如果芯片中集成多個數(shù)字芯核，那么測試數(shù)據(jù)將非常龐大；同時SoC芯片的高

2、集成度使測試的復(fù)雜性迅速提升，使測試面臨巨大的挑戰(zhàn)。如何壓縮迅猛增加的測試數(shù)據(jù)量就是挑戰(zhàn)之一。 本論文圍繞SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法展開研究。介紹了測試向量生成，測試類型及SoC測試結(jié)構(gòu)。鑒于線性反饋移位寄存器(1inear feedback shift registers，LFSR)是工業(yè)界廣泛使用的一種線性解壓結(jié)構(gòu)，本文著重研究基于LFSR重新播種方法的測試數(shù)據(jù)壓縮問題。 本論文分析了目前較為常用的各類LFSR重新播種方

3、法，發(fā)現(xiàn)存在硬件開銷大或計算復(fù)雜太過復(fù)雜以及測試向量生成時間長等若干問題。針對這些問題，提出了一種基于部分相容的動態(tài)LFSR.重新播種方法。由于LFSR重新播種方法中編碼生成的種子的長度受測試集中測試向量確定位最大數(shù)目Smax的制約，通常，測試向量中含確定位的位數(shù)越多，越難以編碼。在編碼前，本方案先對測試集進行處理，運用測試向量相容壓縮方法，減少測試集中包含的確定位位數(shù)，降低了計算LFSR種子的復(fù)雜度及種子的位數(shù)，從而減少所需的總存儲位