基于LFSR重播種的測試壓縮技術的研究與仿真測試.pdf

1、伴隨著超深亞微米技術在集成電路的廣泛使用,推進了電子器件尺寸不斷縮小,集成度大大提高,芯片的規(guī)模呈現(xiàn)出摩爾定律的增長趨勢。同時IP核的復用技術應用到SoC設計中,這種技術不僅能使開發(fā)周期大大縮短,而且系統(tǒng)的功能和性能也有很好的改進。但是,由于集成的IP核數(shù)量的增多,從而使得測試數(shù)據(jù)量和測試所耗時間快速上升。如果通過擴大自動測試設備的存儲面積,增加它的傳輸帶寬來解決這個難題,必然導致測試成本大幅度增加。因而,壓縮測試數(shù)據(jù)成為縮小測試數(shù)據(jù)量

2、的存取面積,減少測試所用時間和降低測試成本的一種最直接有效的途徑。
　　 為了能減少測試數(shù)據(jù)量,本文圍繞SoC測試數(shù)據(jù)壓縮的方法展開研究,在針對一些典型的壓縮方法深入分析和比較的基礎上,提出了部分向量切分的LFSR重播種的方案。LFSR重播種是通過線性反饋移位寄存器把種子展開后獲取測試數(shù)據(jù),然后將測試數(shù)據(jù)填充到掃描鏈中。在LFSR重播種技術中,測試集中的測試向量所包含的確定位的最大個數(shù)對編碼中最后生成的種子的長度有很大影響,而測

3、試向量中所含的確定位的數(shù)目較多是造成編碼難以實現(xiàn)的關鍵。因此,本論文部分切分的LFSR重播種的方案是在編碼之前,首先處理測試集,利用測試向量部分相容的壓縮方法,使得測試集中的所含的確定位的個數(shù)減少,降低LFSR種子算法復雜度,使最后生成的種子的長度縮短,從而縮小測試所用的存儲面積,節(jié)省了測試成本。
　　 采用此種方案,不僅使編碼效率提高了,測試向量生成的時間減少了,而且所需的存取面積也有大幅度的改進。利用ISCAS-89基準電路