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文檔簡介
1、隨著芯片集成度的提高和系統(tǒng)規(guī)模的增大,測試數(shù)據(jù)和測試時間迅速增加,這直接導(dǎo)致了測試成本的上升,同時,傳統(tǒng)的自動測試儀器(ATE)的存儲容量、速度和帶寬不能很好地滿足測試的需要。這使得芯片的測試面臨越來越多的挑戰(zhàn),而如何壓縮迅猛增加的測試數(shù)據(jù)量就是挑戰(zhàn)之一,對它的研究受到學(xué)術(shù)研究機構(gòu)、集成電路設(shè)計商、電子設(shè)計自動化工具廠商和集成電路制造企業(yè)的密切關(guān)注。 本文圍繞SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法展開研究。測試數(shù)據(jù)壓縮有效地減少了數(shù)字電路測試時
2、傳輸?shù)臄?shù)據(jù)量和測試時間,緩解了因集成度的迅速提高所帶來的海量測試數(shù)據(jù)與傳輸帶寬的矛盾。本文對測試的相關(guān)概念,及其面臨的挑戰(zhàn)進(jìn)行了介紹,并對測試激勵壓縮方法及其在工業(yè)中的應(yīng)用進(jìn)行了總結(jié)。 本文提出了一種稱為分組頻率Golomb碼的測試數(shù)據(jù)壓縮方法,針對測試集中游程長度分布的不均勻性,通過重新構(gòu)建Golomb碼的前綴碼來對碼字進(jìn)行更有效的利用,從而達(dá)到提高測試數(shù)據(jù)壓縮率的目的。實驗結(jié)果表明,本方法能有效提高Golomb碼的壓縮率。
3、 本文針對已有各類LFSR重新播種方法存在的硬件開銷大或計算復(fù)雜等問題,提出了一種基于響應(yīng)數(shù)據(jù)分塊相容的測試數(shù)據(jù)編碼壓縮方案。由于LFSR重新播種方法中編碼生成的種子的長度受測試集中測試向量確定位最大數(shù)目Smax的制約,通常地,測試向量含確定位越多,越難以編碼。該方案利用測試向量與掃描鏈中響應(yīng)數(shù)據(jù)的分塊相容,將一些需要編碼的確定位用無關(guān)位代替,從而降低了Smax的值,提高了編碼成功率,進(jìn)而降低了LFSR編碼種子的度數(shù),且不必增加額
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