高低負荷狀態(tài)下高低考試焦慮者工作記憶刷新功能的研究.pdf

1、隨著社會的發(fā)展，考試已經(jīng)在考查學生學習效果及學校教學水平、升學、人才選拔和就業(yè)等領域發(fā)揮著越來越重要的作用。而高考試焦慮影響考生發(fā)揮這一問題在考生中所占的比例也越來越大。本研究以在校大學生為被試，利用考試焦慮圖片庫為刺激材料，采用經(jīng)典工作記憶刷新范式N-back范式，來探討高低考試焦慮者在不同負荷狀態(tài)下的工作記憶刷新功能的差異。結果發(fā)現(xiàn)高考試焦慮者在高負荷狀態(tài)下，對于考試相關刺激材料任務的表現(xiàn)顯著差于低考試焦慮者。
　　 具體結

2、果如下:
　　 (1)行為水平上，低負荷狀態(tài)下，高考試焦慮者的反應時間顯著慢于低考試焦慮者，而正確率上兩組被試則無顯著差異。在高負荷狀態(tài)下，高考試焦慮者的反應時間顯著長于低考試焦慮者，正確率顯著低于低考試焦慮者。
　　 (2)在ERP水平上，在低負荷任務條件下，高低考試焦慮被試在與考試相關圖片刺激任務中的前額區(qū)，中央?yún)^(qū)及頂區(qū)P300波幅差異均顯著，而在中性刺激圖片任務中差異不顯著。在高負荷條件下，結果與低負荷較為相似，高