基于RAS結構的SOC測試方法的應用研究.pdf

1、微電子技術的迅速發(fā)展促進了片上系統(tǒng)(SOC)的出現(xiàn)，并由此將集成電路帶入了一個新的發(fā)展時期。由于SOC采用的是以復用IP芯核為主的設計技術，因而既能加快開發(fā)進度，又能提高系統(tǒng)整體性能。但隨著超大規(guī)模集成電路(VLSI)制造技術的進一步發(fā)展，芯片的集成度越來越高，加上SOC集成IP核數(shù)目的增多，功能越來越復雜，SOC的測試數(shù)據(jù)量也隨之急劇增加，而對其測試訪問也變得更加困難，進而也就為SOC的測試帶來了更大的挑戰(zhàn)。 在VLSI測試中

2、采用的掃描結構可提高電路內部節(jié)點的可控制性和可觀測性，現(xiàn)已在VLSI內部和外部測試中得到大量應用，并已成功應用于當前流行的可測試性設計方法之中。但傳統(tǒng)的串行掃描技術由于對數(shù)據(jù)逐位串行操作的特點，隨著測試數(shù)據(jù)量的增大，該結構已經(jīng)逐漸不能適應目前測試工作的需要，而Randora Access Scan技術則可以有效的解決目前測試工作中面臨的測試數(shù)據(jù)量大，測試時間過長，測試功耗過大等問題。本文對RAS的結構，掃描單元，解碼結構，以及基于RAS

3、的數(shù)據(jù)壓縮，測試功耗和測試時間等內容進行了研究。 本文從RAS基本結構入手，根據(jù)RAS結構的尋址特性，改進了傳統(tǒng)二維地址解碼結構，同時利用觸發(fā)器的反向輸出，進一步精簡了RAS的掃描單元，在降低硬件開銷的基礎上，取得了不錯的數(shù)據(jù)壓縮效果，同時減少了測試時間，而測試功耗與傳統(tǒng)的串行掃描技術相比，幾乎可以忽略不計。該方法與其他方法相比，具有硬件開銷小，解碼結構簡單，大大降低了解碼的復雜性。 此外，本文結合相容原理，通過分析測試