數(shù)字電路內(nèi)建自測試方法的研究.pdf

1、隨著集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展，為了提高測試質(zhì)量并降低測試成本，各種可測性設(shè)計方法得到了廣發(fā)應(yīng)用。其中，內(nèi)建自測試(Built-in Self Test,BIST)是指能夠使一個芯片或電路板對自己進行測試的技術(shù)和電路配置，它具有測試生成過程短、測試復(fù)雜程度低和故障檢測率高等優(yōu)點，并且能節(jié)約測試成本、縮短測試時間、提高系統(tǒng)的可測性和可靠性，逐漸被認可為今后可測性設(shè)計技術(shù)的一個重要組成部分。特別是在武器系統(tǒng)中，電路的內(nèi)建自測試更是得到了廣泛關(guān)注

2、和深入研究。
　　本文主要研究了內(nèi)建自測試的總體測試方案，詳細分析了內(nèi)建自測試應(yīng)用中的關(guān)鍵問題，對縮短測試時間、減少測試序列長度和降低響應(yīng)分析的混淆率提出了新的解決方法。主要的工作包括：
　　首先，本論文深入研究數(shù)字電路的故障模型、測試的基本理論、自動測試向量生成的各種算法，并在D算法和功能測試算法的基礎(chǔ)上，設(shè)計開發(fā)了研究測試向量的數(shù)字電路測試矢量生成軟件，它能在輸入電路結(jié)構(gòu)后自動生成預(yù)設(shè)故障的測試矢量，并完成測試驗證功能。

3、
　　其次，在此測試生成平臺的基礎(chǔ)上，論文還研究了內(nèi)建自測試的測試矢量生成方法，詳細分析了線性反饋移位寄存器(LFSR)生成偽隨機序列的方法，給出了LFSR反饋形式與初始狀態(tài)的選擇方法。并對LFSR進行改進使其包含全零狀態(tài)而得到完全偽隨機序列。為了剔除偽隨機測試序列中包含的許多無用序列，降低測試序列的長度，本文提出了種子重播方法，按照由確定性算法生成的測試矢量求得LFSR的種子，在測試時將種子加載至改進后的LFSR中，這樣便可由該

4、LFSR快速地生成所需的測試序列。
　　然后，本文還研究了人體細胞免疫的機理，根據(jù)免疫過程提出了基于細胞免疫的BIST測試響應(yīng)分析方法。在分析處理之前，利用LFSR進行響應(yīng)數(shù)據(jù)壓縮。對得到的響應(yīng)壓縮值運用細胞免疫法進行故障分析處理。該方法具有快速定位故障和混淆率低的優(yōu)點。
　　最后，利用內(nèi)建自測試的方法完成標準電路故障測試試驗。試驗表明本文所提測試方法具有高故障檢測率，并且能降低測試序列長度從而縮短測試時間，使得測試性能得到