數(shù)字電路內(nèi)建自測(cè)試方法的研究.pdf

1、隨著集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展，為了提高測(cè)試質(zhì)量并降低測(cè)試成本，各種可測(cè)性設(shè)計(jì)方法得到了廣發(fā)應(yīng)用。其中，內(nèi)建自測(cè)試(Built-in Self Test,BIST)是指能夠使一個(gè)芯片或電路板對(duì)自己進(jìn)行測(cè)試的技術(shù)和電路配置，它具有測(cè)試生成過(guò)程短、測(cè)試復(fù)雜程度低和故障檢測(cè)率高等優(yōu)點(diǎn)，并且能節(jié)約測(cè)試成本、縮短測(cè)試時(shí)間、提高系統(tǒng)的可測(cè)性和可靠性，逐漸被認(rèn)可為今后可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)的一個(gè)重要組成部分。特別是在武器系統(tǒng)中，電路的內(nèi)建自測(cè)試更是得到了廣泛關(guān)注

2、和深入研究。
　　本文主要研究了內(nèi)建自測(cè)試的總體測(cè)試方案，詳細(xì)分析了內(nèi)建自測(cè)試應(yīng)用中的關(guān)鍵問題，對(duì)縮短測(cè)試時(shí)間、減少測(cè)試序列長(zhǎng)度和降低響應(yīng)分析的混淆率提出了新的解決方法。主要的工作包括：
　　首先，本論文深入研究數(shù)字電路的故障模型、測(cè)試的基本理論、自動(dòng)測(cè)試向量生成的各種算法，并在D算法和功能測(cè)試算法的基礎(chǔ)上，設(shè)計(jì)開發(fā)了研究測(cè)試向量的數(shù)字電路測(cè)試矢量生成軟件，它能在輸入電路結(jié)構(gòu)后自動(dòng)生成預(yù)設(shè)故障的測(cè)試矢量，并完成測(cè)試驗(yàn)證功能。

3、
　　其次，在此測(cè)試生成平臺(tái)的基礎(chǔ)上，論文還研究了內(nèi)建自測(cè)試的測(cè)試矢量生成方法，詳細(xì)分析了線性反饋移位寄存器(LFSR)生成偽隨機(jī)序列的方法，給出了LFSR反饋形式與初始狀態(tài)的選擇方法。并對(duì)LFSR進(jìn)行改進(jìn)使其包含全零狀態(tài)而得到完全偽隨機(jī)序列。為了剔除偽隨機(jī)測(cè)試序列中包含的許多無(wú)用序列，降低測(cè)試序列的長(zhǎng)度，本文提出了種子重播方法，按照由確定性算法生成的測(cè)試矢量求得LFSR的種子，在測(cè)試時(shí)將種子加載至改進(jìn)后的LFSR中，這樣便可由該

4、LFSR快速地生成所需的測(cè)試序列。
　　然后，本文還研究了人體細(xì)胞免疫的機(jī)理，根據(jù)免疫過(guò)程提出了基于細(xì)胞免疫的BIST測(cè)試響應(yīng)分析方法。在分析處理之前，利用LFSR進(jìn)行響應(yīng)數(shù)據(jù)壓縮。對(duì)得到的響應(yīng)壓縮值運(yùn)用細(xì)胞免疫法進(jìn)行故障分析處理。該方法具有快速定位故障和混淆率低的優(yōu)點(diǎn)。
　　最后，利用內(nèi)建自測(cè)試的方法完成標(biāo)準(zhǔn)電路故障測(cè)試試驗(yàn)。試驗(yàn)表明本文所提測(cè)試方法具有高故障檢測(cè)率，并且能降低測(cè)試序列長(zhǎng)度從而縮短測(cè)試時(shí)間，使得測(cè)試性能得到