數(shù)字電路的故障模型和故障壓縮方法研究.pdf

1、隨著集成電路設(shè)計與制造技術(shù)的飛速發(fā)展,集成電路的復(fù)雜度日益提高,規(guī)模也越來越大,這使得集成電路的測試變得更加困難.由于測試生成過程長、測試復(fù)雜度高、故障覆蓋率低,傳統(tǒng)的測試生成方法已經(jīng)難以應(yīng)付測試要求.因此,對故障壓縮、新的故障模型和測試生成方法的研究已成為當(dāng)今數(shù)字電路測試領(lǐng)域的熱點. 本文主要工作有: (1)介紹了測試的基礎(chǔ)知識;重點介紹了故障模擬和重要的ATPG算法;最后介紹了可測性設(shè)計技術(shù). (2)從結(jié)構(gòu)和

2、功能上分析了等價故障壓縮和支配故障壓縮的方法,重點對扇出線處的故障進行了研究,給出了扇出線處故障間的支配關(guān)系,它可以對目標(biāo)故障集進一步壓縮. (3)分析了多故障模型的原理,并在此基礎(chǔ)上,對并發(fā)測試生成方法進行了深入的研究.對于等價故障壓縮和支配故障壓縮后的目標(biāo)故障集,利用多故障模型來尋找其中有共同測試向量的并發(fā)故障,建立并發(fā)關(guān)系圖,并按照分團算法對目標(biāo)故障集進行分團,最后對分團的結(jié)果生成并發(fā)測試集.實驗結(jié)果表明,與傳統(tǒng)的方法相比