2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
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1、隨著集成電路規(guī)模不斷擴(kuò)大,芯片上晶體管的集成度越來(lái)越高,芯片測(cè)試越來(lái)越困難,測(cè)試數(shù)據(jù)量越來(lái)越大,測(cè)試成本越來(lái)越高。如何提高測(cè)試壓縮率,降低測(cè)試成本成為集成電路測(cè)試應(yīng)考慮的一個(gè)重要問(wèn)題。本文圍繞著這個(gè)問(wèn)題提出了如下兩種測(cè)試壓縮方法。
 ?。?)IFDR編碼是一種能同時(shí)對(duì)0游程和1游程編碼的改進(jìn)型 FDR編碼方法,在一定程度上提高了壓縮率,但沒(méi)有考慮等游程的情況。本文在 IFDR的基礎(chǔ)上進(jìn)行改進(jìn),提出一種基于游程相等編碼的FDR(ER

2、FDR)方法。首先,該方法不僅能同時(shí)對(duì)原測(cè)試集的0游程和1游程進(jìn)行編碼,而且相鄰游程相等時(shí)可以用較短的碼字來(lái)代替,從而進(jìn)一步提高了壓縮率。其次,本文還提出針對(duì)該壓縮方法的測(cè)試集 X(無(wú)關(guān)位)填充算法,增強(qiáng)提出方法的壓縮效果。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,與 Golomb,F(xiàn)DR,EFDR,IFDR相比較,提出方法獲得更高的壓縮率,降低了測(cè)試費(fèi)用。
  (2)EFDR-BC碼針對(duì)測(cè)試集中許多測(cè)試向量?jī)H有少數(shù)位不相容的特點(diǎn),將相容性好的向量分在一組,

3、進(jìn)而只需要保存模板向量和差異向量。該方法取得較好的壓縮效果,但多個(gè)向量壓縮為一個(gè)向量,需要保存的信息較多,壓縮率反而受損。本文基于此提出一種改進(jìn)的EFDR-BC壓縮方法。首先,定義了向量間的距離。其次,提出測(cè)試向量?jī)蓛珊喜⑺惴?。在該算法中,以向量的距離為權(quán)值,選擇距離最近的兩個(gè)向量?jī)蓛珊喜?。最后,結(jié)合 ERFDR方法,提出一種改進(jìn)型EFDR-BC碼和組向量編碼,并分別對(duì)合并后的向量編碼。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,與Golomb碼、FDR碼、EFDR

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