磁控濺射摻鋁氧化鋅(AZO)薄膜及其在多晶硅太陽(yáng)電池上的應(yīng)用.pdf_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩99頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、摻Al的ZnO薄膜(簡(jiǎn)稱AZO)不但制備簡(jiǎn)單、價(jià)格低廉、無(wú)毒無(wú)害而且具有透明、導(dǎo)電等優(yōu)良特性。本文試圖將AZO這些特性用于多晶硅半導(dǎo)體太陽(yáng)電池制備中,希望能降低電池的成本、提高電池的性能。本文主要的工作和成果如下:
   1.研究了室溫下工藝條件(濺射功率、氬氣流量)對(duì)AZO薄膜電學(xué)、光學(xué)、結(jié)構(gòu)、表面形貌等性質(zhì)的影響,獲得AZO薄膜制備的最佳工藝條件:濺射功率150W,氬氣流量60sccm(氣體壓強(qiáng)為0.6Pa)。
  

2、 2.研究了退火對(duì)磁控濺射AZO薄膜性能的影響。在N2氛圍中的退火,發(fā)現(xiàn)退火對(duì)此條件濺射的AZO薄膜的透射光學(xué)性質(zhì)影響不大,在可見(jiàn)光區(qū)域透射率均在90%左右。
   3.首次研究了形成AZO薄膜與N+型Si歐姆接觸的機(jī)理和條件。結(jié)果發(fā)現(xiàn)AZO薄膜與N+型Si的比接觸電阻先隨溫度升高而降低,當(dāng)退火溫度大于550℃后比接觸電阻又提高;比接觸電阻先隨著退火時(shí)間的增加而降低,超過(guò)7.5min后又提高。最佳退火條件為N2氛圍中,550℃下

3、退火7.5min,所獲得最低比接觸電阻為7.32×10-4Ω.cm2。此工作申請(qǐng)了一件發(fā)明專利,并正式發(fā)表一篇論文。
   5.用橢圓偏振檢測(cè)磁控濺射的AZO薄膜折射率為1.93,與SiNx折射率1.97相近。研究了AZO在N+-Si上的光反射譜,結(jié)果表明:在可見(jiàn)光范圍內(nèi)反射率都比較低,尤其在波長(zhǎng)為550nm處反射率在1.5%左右,可替代SiNx作為晶體硅的減反射膜。對(duì)AZO和SiNx兩種減反膜的多晶硅太陽(yáng)電池進(jìn)行了對(duì)比測(cè)試分析

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論