基于IEEE Std 1500的SoC存儲(chǔ)器測試技術(shù)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、存儲(chǔ)器的可靠性測試是SoC設(shè)計(jì)中十分重要的問題。本文結(jié)合IEEE Std1500以及內(nèi)建自測試的相關(guān)理論,給出并驗(yàn)證了一種進(jìn)行 SoC存儲(chǔ)器的測試方法。該方法可以實(shí)現(xiàn)SoC存儲(chǔ)器測試結(jié)構(gòu)的復(fù)用并完成SoC存儲(chǔ)器故障測試。
　　本文對(duì)SoC存儲(chǔ)器基本理論進(jìn)行了深入的分析,并重點(diǎn)研究了IEEE Std1500的測試結(jié)構(gòu)和規(guī)范。結(jié)合測試標(biāo)準(zhǔn),本文確定了 SoC存儲(chǔ)器測試殼的構(gòu)架,設(shè)計(jì)了測試殼中各組成模塊,包括邊界寄存器、旁路寄存器、控制

2、接口和指令寄存器等組成單元。根據(jù)選取存儲(chǔ)器的測試算法,本文設(shè)計(jì)了相應(yīng)的指令格式并完成編碼工作。利用存儲(chǔ)器的內(nèi)建自測試方法,本文設(shè)計(jì)了相應(yīng)的存儲(chǔ)器測試控制器。測試控制器負(fù)責(zé)測試指令輸入、測試激勵(lì)的生成、測試響應(yīng)的收集以及測試結(jié)果的判斷和輸出等功能。測試殼與測試控制器共同組成了整個(gè)系統(tǒng),完成故障檢測工作。
　　以32×8的SRAM做為SoC存儲(chǔ)器的測試對(duì)象,對(duì)設(shè)計(jì)內(nèi)容的進(jìn)行功能驗(yàn)證。本文采用EDA工具和硬件描述語言Verilog HD

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