基于動態(tài)電流信息的集成電路測試研究.pdf

1、隨著集成電路工藝的發(fā)展，芯片的復雜度驚人提高，晶體管的缺陷對集成電路的影響也越來越大，然而這些故障不一定能被電壓測試和靜態(tài)電流測試檢測出來，因此，這需要更新的測試策略對傳統(tǒng)的測試方法進行補充。本文對作為新的研究熱點的測試方法—基于動態(tài)電流測試信息的VLSI測試方法進行了研究。 本文首先討論了課題研究的背景與該方法在國內外的研究現(xiàn)狀。 然后，根據(jù)動態(tài)電流的產生機理，采用多頁有向圖對IDDT產生過程進行了建模，并根據(jù)這種模型

2、提出了測試矢量與IDDT路徑生成算法(VPG算法)，通過該算法可在任意數(shù)字電路中查找任意測試矢量對所對應的所有IDDT路徑。利用該算法可以實現(xiàn)晶體管級或通路段級(MOS管串聯(lián)通路段)的故障定位。同時，由于越來越多的芯片通過標準庫進行設計，提出了單元化結構測試的思想，并根據(jù)此思想提出了基于標準功能單元的IDDT激勵與路徑生成算法(UVPG算法)。通過該算法可以在任意通過標準單元構成的電路中進行測試矢量與對應的動態(tài)電流路徑的生成?？梢允褂迷?/p>

3、算法在測試前生成針對一定目標生成最小測試集，減少測試時間。本文通過程序對算法進行了實現(xiàn)，驗證了算法的正確性和有效性。 針對數(shù)字電路中不易用電壓測試和靜態(tài)電流測試方法完成診斷的復雜故障，如：橋接故障和阻性開路故障，研究了相關分析法。并首次提出了將相關分析法用于提取動態(tài)電流中的故障特征。采用相關分析法，使正常電路動態(tài)電流和故障電路動態(tài)電流分別通過子帶濾波器組，然后分析其對應子帶序列的相關系數(shù)，與相干函數(shù)的自相關序列定積分值，并將這兩