LTE基帶芯片HardPHY子系統(tǒng)的FPGA驗(yàn)證.pdf

1、LTE(Long Term Evolution)項(xiàng)目是第三代移動(dòng)通信技術(shù)(3rd-generation，3G)的演進(jìn)，中國(guó)正致力于TD-LTE(Time Division Long Term Evolution)技術(shù)的研究。隨著LTE終端基帶芯片設(shè)計(jì)的進(jìn)行，對(duì)其進(jìn)行有效的驗(yàn)證已經(jīng)成為芯片開(kāi)發(fā)流程中的關(guān)鍵。
　　本文采用FPGA(Field Programmable Gate Array)驗(yàn)證的方式，對(duì)LTE基帶芯片子系統(tǒng)的驗(yàn)證展開(kāi)

2、了論述，詳細(xì)介紹了子系統(tǒng)中USB橋，外接收機(jī)，原型接口的FPGA驗(yàn)證過(guò)程。FPGA驗(yàn)證的結(jié)果也達(dá)到了芯片設(shè)計(jì)規(guī)范的要求。本文首先介紹了FPGA的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，結(jié)合芯片設(shè)計(jì)的流程，總結(jié)了FPGA驗(yàn)證人員的工作流程，指導(dǎo)驗(yàn)證工作的進(jìn)行。接著本文從FPGA驗(yàn)證平臺(tái)的搭建出發(fā)，根據(jù)LTE基帶芯片的結(jié)構(gòu)和功能特點(diǎn)，制定了合適的驗(yàn)證計(jì)劃以及測(cè)試向量的編寫(xiě)規(guī)則，并且詳細(xì)論述了FPGA的驗(yàn)證流程：從設(shè)計(jì)代碼的轉(zhuǎn)換開(kāi)始到后期進(jìn)行的FPGA的板級(jí)調(diào)試。在驗(yàn)證流

3、程中，為了達(dá)到功能的要求和后期板級(jí)調(diào)試的開(kāi)展，軟件仿真工作占了驗(yàn)證周期很大的比重。
　　最后本文介紹了系統(tǒng)具體功能模塊的驗(yàn)證工作。根據(jù)功能模塊的結(jié)構(gòu)特性，在系統(tǒng)中完成的功能，依托FPGA驗(yàn)證平臺(tái)，分別制訂了有效可行的驗(yàn)證方法，并在FPGA原型驗(yàn)證平臺(tái)上進(jìn)行了調(diào)試，調(diào)試工具采用的是在線(xiàn)邏輯分析儀，能夠?qū)崟r(shí)的檢測(cè)端口的信號(hào)。板級(jí)調(diào)試后的結(jié)果與驗(yàn)證初期軟件仿真的結(jié)果一致。本文通過(guò)對(duì)基帶芯片的FPGA驗(yàn)證的實(shí)踐，總結(jié)了針對(duì)ASIC（專(zhuān)用集