堆疊芯片級(jí)封裝設(shè)計(jì)中信號(hào)完整性問(wèn)題的研究.pdf_第1頁(yè)
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1、近年來(lái),消費(fèi)電子產(chǎn)品已經(jīng)取得快速發(fā)展,隨著時(shí)鐘頻率的提高,發(fā)現(xiàn)和解決信號(hào)完整性問(wèn)題已越來(lái)越關(guān)鍵。同時(shí)考慮信號(hào)完整性和可制造性以及制造成本的電學(xué)指導(dǎo)原則對(duì)產(chǎn)品封裝設(shè)計(jì)具有重大意義。本論文首先總結(jié)出通過(guò)設(shè)計(jì)改善堆疊芯片級(jí)封裝信號(hào)完整性的方法,包括縮短線(xiàn)長(zhǎng),增加線(xiàn)寬和間距,電源、地網(wǎng)絡(luò)連通,數(shù)據(jù)信號(hào)線(xiàn)長(zhǎng)匹配,分支線(xiàn)長(zhǎng)匹配,時(shí)鐘信號(hào)屏蔽,環(huán)路面積最小化等。通過(guò)理論分析,在一定假設(shè)和參數(shù)選擇的基礎(chǔ)上,作者自行設(shè)計(jì)測(cè)試電路,畫(huà)出基板布線(xiàn)圖,建立三維

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