考試焦慮者注意偏向的動態(tài)時間變化.pdf

1、本研究主要采用事件相關電位技術(Event-related potential，ERP)和眼動追蹤技術(Eye-tracking technique)，通過評定標準化的考試焦慮圖片庫和詞匯庫，以考試相關及無關威脅詞匯或圖片作為刺激材料，探討了在點探測任務中刺激的呈現時間及威脅水平對高、低考試焦慮個體注意偏向的影響。
　　主要的結果和結論如下:
　　1.閾上200ms刺激呈現時，在行為水平上，高考試焦慮個體對考試相關威脅刺激存

2、在注意偏向，而低考試焦慮個體則對考試相關刺激存在注意回避;在腦電水平上，高考試焦慮組在考試無關威脅詞線索瑣時N1波幅增強以及考試相關威脅詞異側探測時的靶瑣時N200波幅增強和LPP波幅減弱，而低考試焦慮組的考試相關威脅詞異側探測時的靶瑣時N200波幅減弱。
　　2.閾下50ms刺激呈現時，與低考試焦慮相比，在行為水平上，高考試焦慮個體對考試相關低威脅刺激產生注意易化趨勢，并對考試相關高威脅刺激脫離易化;在腦電水平上，高考試焦慮個體

3、線索誘發(fā)的C1波幅、N1峰值以及靶刺激誘發(fā)的N1波幅和峰值、P1波幅增強。
　　3.閾上500ms刺激呈現時，與低考試焦慮相比，在行為水平上，高考試焦慮個體對考試相關的高、低威脅刺激均產生注意回避及脫離困難;在腦電水平上，高考試焦慮個體線索誘發(fā)的N1峰值以及靶刺激誘發(fā)的N1峰值、P1波幅升高。
　　4.在刺激呈現時間3000ms時，與低考試焦慮相比，高考試焦慮個體對考試相關低威脅刺激存在注意易化，對考試相關高威脅刺激注意回避

4、;隨著認知負荷的增加，高考試焦慮個體對呈現時間為3000ms的考試相關威脅刺激脫離困難。
　　5.高考試焦慮個體對考試相關威脅刺激注意偏向呈現動態(tài)變化特征，對考試相關威脅刺激注意偏向出現在早期的前注意加工階段，并在后期的策略加工階段對威脅刺激注意保持或回避。威脅水平和認知負荷也會調節(jié)考試焦慮者對考試相關威脅刺激注意偏向成分。
　　對本研究存在的局限、本研究結果及應用進行了深入討論，且對于未來研究工作及研究方向，提供具體建議。