ZnO納米線場效應(yīng)晶體管的制備及I-V特性研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文采用納米線制備、組裝、測試及分析方法,利用單根ZnO納米線制備了ZnO納米線場效應(yīng)晶體管(FET)。研究了器件各種參數(shù)對器件I-V特性的影響,同時,論文還介紹了納米ZnO和半導(dǎo)體微納電子器件的最新研究進(jìn)展及國內(nèi)外熱點研究問題。本論文共四章,主要分為:
   (1)介紹了納米科技的基礎(chǔ)知識,納米材料的基本性能及相應(yīng)的應(yīng)用領(lǐng)域;對國內(nèi)外納米材料及微納半導(dǎo)體器件的研究進(jìn)展進(jìn)行了綜述,對典型的微納半導(dǎo)體器件進(jìn)行了分類,并對相應(yīng)的工作

2、原理進(jìn)行了闡述。
   (2)介紹了ZnO半導(dǎo)體納米線的各種制備方法,并運用化學(xué)氣相沉積法(CVD)在各種條件下制備了實驗所需的ZnO納米線,并對制備的ZnO納米線進(jìn)行了分析表征。
   (3)利用制備的單根ZnO納米線,制作了三種不同金屬電極的ZnO納米線FET。主要方法如下:首先,在Si片上生長一層SiO2絕緣層,本文中采用的是熱氧化法;然后在Si片鍍一層薄金屬膜,我們在實驗過程中共選取了三種金屬(Au、Zn、Al)

3、分別蒸鍍在Si片表面,再利用離子刻蝕技術(shù)在每種金屬膜上分別刻蝕一條隔離溝道,溝道的兩邊分別作為FET的緣極和漏極,背面的Si層作為柵極;借靜電探針和原子力顯微鏡的幫助,選一根ZnO納米線橫放在兩個金屬電極上,制備出簡單的ZnO納米線FET。
   (4)對不同ZnO納米線FET器件進(jìn)行I-V測試和分析;通過多次實驗,分析ZnO納米線FET的輸運性質(zhì)以及其影響因素。I-V特性曲線顯示了理想二極管的整流特性。研究發(fā)現(xiàn)這些自發(fā)形成的肖

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