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文檔簡介
1、憶阻器是具有記憶功能的非線性電阻,作為與電阻、電容、電感相并列的第四代電路元件。由于其制備受限于納米工藝和嚴格的實驗條件,短時間內(nèi)還不能夠走出實驗室,導致對憶阻器的研究一直停留在理論研究階段。為加快憶阻器的應用研究,憶阻器的電路模型研究成為近些年的一個研究熱點,但目前已有的電路模型還存在許多不足,諸如憶阻值不可測,滿足HP憶阻器特性的同時無法滿足憶阻器定義,以及無法作為二端口器件應用于其它電路中等。因此,有必要建立符合HP憶阻器特性的二
2、端口電路模型。本文的目的是構建符合HP憶阻器的電路模型,并通過該電路模型實現(xiàn)憶容器的電路模型,以及探討將該憶阻器電路模型應用于混沌電路的可行性。
本文首先基于磁通控制型憶阻器的定義,通過構建其基本構成變量——磁通,實現(xiàn)磁通量對憶阻器導納值的直接控制,借助于光控電阻(Light-DependentResistor,LDR)實現(xiàn)憶阻器的等效二端口網(wǎng)絡。該憶阻器等效電路由兩部分構成,控制電路和等效憶阻器。其中,控制電路可視為一個黑匣
3、子,它并聯(lián)在等效憶阻器的兩側(cè),通過LDR實現(xiàn)磁通量對憶導值的遠程控制,以避免因直接的電氣連接造成控制電路對等效憶阻器阻值的影響。該憶阻器電路模型導納值可測,電路結(jié)構較以往的電路模型簡單、工作頻率寬,電壓電流特性也與HP憶阻器的滯后環(huán)特性一致。
然后,對目前已存在的五種憶阻器數(shù)學模型進行了研究,重點考察它們對本文提出的LDR憶阻器電路模型的適用性,如無源特性、電壓電流特性以及在不同頻率輸入信號作用下的電路特性等。通過仿真和性能對
4、比,最后確定基于憶阻系統(tǒng)定義的憶阻器數(shù)學模型能夠表征LDR憶阻器電路模型的各項性能。
接著,本文從憶阻器和憶容器內(nèi)部變量之間的關系出發(fā),以LDR憶阻器電路模型為基礎,通過建立二者組成變量的關系轉(zhuǎn)換器,最終實現(xiàn)了憶容器的電路模型,并推導出該憶容器等效憶容的計算公式。該電路模型滿足憶容器電荷電壓間的非線性關系,當輸入低頻正弦電壓時,電壓與電荷之間呈現(xiàn)明顯的滯后環(huán)特性。
最后,在LDR憶阻器數(shù)學模型的基礎上,對LDR憶阻器
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