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文檔簡介
1、進入集成電路深亞微米技術(shù)發(fā)展階段以來，IP核復(fù)用技術(shù)被越來越多的應(yīng)用在SoC設(shè)計中，內(nèi)建自測試作為可測性設(shè)計方法之一成為測試IP核的廣泛使用手段。近年來測試開銷逐漸成為生產(chǎn)代價的主要部分，測試復(fù)用的實現(xiàn)可以在很大程度上節(jié)省設(shè)計時間及降低測試成本。因此對 IP核的內(nèi)建自測試與測試復(fù)用性研究非常具有實際意義。
本文前部分在研究內(nèi)建自測試技術(shù)原理的基礎(chǔ)上從IP核的設(shè)計方法入手將BIST結(jié)構(gòu)設(shè)計成為一個IP核功能模板。整個設(shè)計過程按著
2、IP核的設(shè)計流程展開，首先定義BIST總體結(jié)構(gòu)的功能和接口，然后按照整個功能劃分子模塊，并在各子模塊設(shè)計過程中考慮端口連接及模塊重構(gòu)功能，最后通過對各子模塊的集成實現(xiàn)BIST IP核模板的即插即用。在完成上述工作后，結(jié)合IEEE1500標準的測試結(jié)構(gòu)和規(guī)范，本文繼續(xù)探討了以多個IP核為測試對象的測試復(fù)用方法，重點研究了IEEE1500標準的測試結(jié)構(gòu)和規(guī)范，結(jié)合測試標準確定并設(shè)計了測試殼中的各個組成模塊，并在BIST理論基礎(chǔ)上設(shè)計了相應(yīng)的
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