基于SoC的測試數(shù)據(jù)壓縮技術研究.pdf

1、超深亞微米技術的應用使得芯片的集成度大幅提高，集成電路設計正快速地向片上系統(tǒng)SoC(System—On-a—Chip)設計方法轉變，_SoC不論在開發(fā)周期，還是在系統(tǒng)功能、性能方面，均具有無可比擬的優(yōu)點。但是隨著SoC集成IP)核數(shù)目的增多，功能越來越復雜，SoC的測試數(shù)據(jù)量、測試功耗也隨之急劇增加，其測試訪問也變得更加困難，進而也就為SoC的測試帶來了更大的挑戰(zhàn)。 SoC的測試問題已經受到越來越廣泛的關注。而測試數(shù)據(jù)壓縮是解決

2、SoC測試問題的一種行之有效的方法，它可以用于減少所需存儲的測試數(shù)據(jù)量。測試時，壓縮后的數(shù)據(jù)經過解碼電路被還原為原始的測試向量，施加到被測電路完成測試。 對此，本論文圍繞SoC測試數(shù)據(jù)壓縮問題展開了研究。詳細介紹了SoC測試的相關理論和SoC測試數(shù)據(jù)壓縮技術，對現(xiàn)有的幾種典型方法的優(yōu)缺點進行了分析，總結出了每種方法各自的適用范圍，并在此基礎上提出了部分改進。 本文提出了一種基于無關位預處理的改進FDR碼壓縮方法。該方法是

3、一種綜合性能比較高的編碼壓縮方法，它對當前在測試數(shù)據(jù)壓縮領域比較優(yōu)秀的FDR碼做了相應的改進。針對FDR碼只對0游程進行編碼而對測試序列中連續(xù)的1壓縮率不高的缺點，本文提出了一種對0和1游程同時編碼的壓縮方案；為達到更高的壓縮率和降低測試功耗，文中提出了一種根據(jù)前后數(shù)據(jù)指定無關位的預處理方法；隨后給出了相應的編碼算法，并設計了相應的解碼器。最后，本文將這種無關位指定方法應用到了狀態(tài)翻轉連續(xù)長度碼中，并在預處理方面作了相應的改進。