基于FDR編碼的高效測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮掃描樹結(jié)構(gòu)研究.pdf

1、電子系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于生活的各個(gè)角落，而電子系統(tǒng)的關(guān)鍵部件是集成電路(IC)。近幾十年來，隨著超大規(guī)模集成(VLSI)技術(shù)的迅猛發(fā)展，芯片中晶體管的數(shù)目成指數(shù)倍增加，集成電路的測(cè)試日益成為一個(gè)挑戰(zhàn)。全掃描設(shè)計(jì)是最重要的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)方法之一。其主要思想是通過在觸發(fā)器之間添加一些邏輯，使全部觸發(fā)器具有全可控性和全可觀察性，因此它可以降低測(cè)試復(fù)雜度，但是它的測(cè)試時(shí)間很長(zhǎng)、測(cè)試數(shù)據(jù)量非常高。
　　 FDR是一種單游程編碼方法，可以有

2、效的降低測(cè)試數(shù)據(jù)量;掃描樹技術(shù)是一種廣播式的壓縮方法，只需要一個(gè)掃描輸入就可以驅(qū)動(dòng)多條掃描鏈，可以有效的降低測(cè)試應(yīng)用時(shí)間和測(cè)試數(shù)據(jù)量。但是，它們的壓縮效果不是很理想。
　　 為了進(jìn)一步降低測(cè)試應(yīng)用時(shí)間和測(cè)試數(shù)據(jù)量，本文提出一種基于FDR編碼高效的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮掃描樹結(jié)構(gòu)。首先，本文分析了掃描樹和FDR編碼技術(shù)結(jié)合的高效性;然后，研究掃描單元合并時(shí)無關(guān)位X的填充問題（填0或1）并考慮確定位最終是0還是1對(duì)FDR編碼的影響，本文提出了

3、一種掃描樹構(gòu)造方法來降低確定位的數(shù)目，提高FDR編碼的效率，進(jìn)一步降低測(cè)試數(shù)據(jù)量;此外，本文考慮了布線開銷，在提高壓縮效率的基礎(chǔ)上優(yōu)化了線長(zhǎng)開銷。最后，對(duì)所提出的方法進(jìn)行了驗(yàn)證，實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，對(duì)于大的ISCA'89電路，在只考慮壓縮率的情況下本文提出掃描樹與FDR，ALT-FDR結(jié)合的方法比僅使用FDR，ALT-FDR平均分別多降低了16.65％，14.73％，提出方法也優(yōu)于當(dāng)前的編碼的方法。在同時(shí)考慮壓縮率和布線開銷時(shí)，線長(zhǎng)平均降低了