基于多特征序列編碼的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著基于IP核復(fù)用的系統(tǒng)芯片(System-on-a-Chip,SoC)設(shè)計技術(shù)的出現(xiàn),極大的增加了芯片設(shè)計產(chǎn)量且縮短了產(chǎn)品投放市場的時間,然而隨著集成的IP核數(shù)目的增加,使得芯片測試所需的測試數(shù)據(jù)量也飛速增加;同時,由于自動測試設(shè)備(Auto Test Equipment,ATE)的昂貴,使得SoC的測試成本飛速上升,SoC的測試問題已經(jīng)受到越來越廣泛的關(guān)注。為了解決SoC測試數(shù)據(jù)量過大的問題,一種最直接有效的方法就是對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行壓

2、縮。 本論文在分析了幾種測試數(shù)據(jù)編碼壓縮的基礎(chǔ)上,提出了兩種新的編碼壓縮方案,其中主要內(nèi)容有: (1)介紹了測試技術(shù)基礎(chǔ)以及SoC測試中遇到的問題,總結(jié)了目前測試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)的國內(nèi)外研究成果,主要可分為內(nèi)建自測試和外建自測試兩類壓縮方法。并針對兩類方法都舉出一些主要的方案進(jìn)行闡述,剖析其內(nèi)在原理及特點(diǎn)。 (2)第一種方案--對多特征序列編碼的方案。FDR碼只對0游程編碼,對連續(xù)的1和交替序列的編碼效率很低,因此提

3、出了針對測試數(shù)據(jù)中四種特征序列進(jìn)行編碼的策略。主要思想是將測試集看成由四種特征序列組成的數(shù)據(jù)流,對不同的序列采用同等的編碼規(guī)則,提高編碼效率。并在FDR碼的基礎(chǔ)上,提出了兩種針對多特征序列的編碼規(guī)則,并給出其解碼硬件結(jié)構(gòu)。 (3)第二種方案--針對變長輸入Huffman碼方案中只對0游程長度進(jìn)行統(tǒng)計編碼的缺陷,提出一種新的基于游程長度的統(tǒng)計模式集合,根據(jù)新的集合對測試集中各種游程長度的出現(xiàn)頻率進(jìn)行統(tǒng)計,再進(jìn)行Huffman編碼,

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