基于狀態(tài)相關(guān)和冪次數(shù)劃分的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf

1、隨著集成電路制造工藝的不斷發(fā)展，單芯片的集成度越來越高，通過集成各種IP核，系統(tǒng)芯片SoC的功能更加強(qiáng)大，但同時(shí)也帶來了測試數(shù)據(jù)量的快速增加。由于傳統(tǒng)的自動測試設(shè)備的存儲量、工作頻率以及帶寬有限，這使得SoC測試面臨時(shí)間過長、測試成本過高等問題。面對海量的測試數(shù)據(jù)，測試數(shù)據(jù)壓縮提供了一種可行有效的解決方案，使得SoC測試數(shù)據(jù)量過大和測試時(shí)間過長等問題得到有效緩解。本論文正是圍繞SoC測試數(shù)據(jù)的壓縮問題展開了研究。
　　 本文先介

2、紹了SoC測試的相關(guān)概念和一些典型的測試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)，并作了相關(guān)分析，然后提出了一種基于LFSR狀態(tài)相關(guān)的測試數(shù)據(jù)編碼壓縮方法。針對當(dāng)前LFSR狀態(tài)和種子的相關(guān)性，根據(jù)控制位只對該種子載入過程中需要改變的位進(jìn)行控制，使得在載入種子生成測試向量時(shí)，并不需要全部載入種子的每位數(shù)值，使得控制簡單且種子的施加時(shí)間更少，從而實(shí)現(xiàn)測試數(shù)據(jù)壓縮。實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明，該方法能夠有效地減少種子的存儲空間和施加時(shí)間。
　　 針對測試集中存在大量的連續(xù)數(shù)據(jù)

3、塊，本文提出了一種基于冪次數(shù)劃分的測試數(shù)據(jù)壓縮方法。首先將測試向量集劃分成若干數(shù)據(jù)塊，使每塊的長度正好是2的冪的倍數(shù)，對其判斷，確定其是否為連續(xù)塊，若是則只要用一定的標(biāo)記位就可表示此連續(xù)塊的長度，同時(shí)將連續(xù)位長度不足的序列劃為非連續(xù)塊，并且不對其進(jìn)行編碼，有效地避免了用長碼字替換短游程序列的情況。該方法編碼規(guī)則減少了使用前、后綴形式編碼的復(fù)雜性，且解壓體系結(jié)構(gòu)是一個簡單的有限狀態(tài)機(jī)，所以其編碼/解碼過程、通訊控制協(xié)議簡單。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示，