DDR存儲器的測試方法研究及實現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文從存儲器技術(shù)的發(fā)展和分類開始,對存儲器的性能、指標、故障模式和基本測試方法等做了系統(tǒng)闡述,針對DDR測試的不同層次,分別提出了基于板級的DDR測試方案、基于專用存儲器測試系統(tǒng)的DDR測試方法和基于ETS770邏輯測試系統(tǒng)的DDR測試方案?;诎寮壍腄DR測試方案,主要面向的是設計使用,對DDR接口驅(qū)動、控制信號、高速工作等部分進行試驗和測試,測試的是器件的實際使用性能。而基于專用存儲器測試系統(tǒng)的DDR測試方法,主要面向的是產(chǎn)品生產(chǎn)

2、和用戶驗收,對器件的功能和交直流參數(shù)進行測試,測試比較全面?;贓TS770邏輯測試系統(tǒng)的DDR測試方案則是面向用戶的驗收和可靠性測試。目前國內(nèi)用戶要開展對DDR SDRAM的驗收和可靠性測試的研究受到很大的限制,為解決這個問題,本文在無專用的存儲器測試圖形發(fā)生器的支持下,利用程序方法進行了測試向量的自動生成,在對生成的測試向量進行自動轉(zhuǎn)換和少量手工修改后,實現(xiàn)了對DDR SDRAM幾種存儲器圖形的測試。利用DDR SDRAM存儲器的

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