嵌入式存儲器的測試方法研究與實現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著集成電路集成度和復雜度的提高，嵌入式存儲器在片上系統(tǒng)芯片(SoC)上占有越來越多的比重。由于嵌入式存儲器中晶體管密集，存在高布線密度、高復雜度和高工作頻率等因素，很容易發(fā)生物理缺陷。而且存儲器嵌入在芯片中，并非所有的引腳都被連到芯片引腳上，故傳統(tǒng)的測試方案不能有效支持測試。因此，研究高效率的測試算法，建立有效地嵌入式存儲器測試方法，對提高芯片成品率，降低芯片生產(chǎn)成本具有十分重要的意義，而內(nèi)建自測試(BIST)則成為當前針對嵌入式存儲

2、器測試的一種經(jīng)濟有效的途徑。
　　 本論文主要采用了內(nèi)建自測試(BIST)對數(shù)字基帶芯片中的存儲器進行可測性設(shè)計。第一章介紹了幾種可測性設(shè)計方法，比較了它們的特點，確定了各自的適用范圍；第二章對存儲器的類型和測試方法，以及測試難點進行闡述和分析；第三章根據(jù)存儲器內(nèi)建自測試(BIST)對SDRAM進行了可測性設(shè)計，完成后可以用正常的工作速度實現(xiàn)對存儲器的測試；第四章對存儲器功能進行測試和驗證，對輸入和輸出結(jié)果進行比較分析，并用軟件

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