不同的方法去除玷污層聯(lián)合熱注牙膠對(duì)冠滲漏的影響.pdf

1、目的：根管治療完成后冠方滲漏是治療失敗的主要原因，其影響比根尖滲漏更重要。冠封閉不嚴(yán)時(shí)，微生物及其代謝產(chǎn)物沿著根充材料與根管壁間的縫隙進(jìn)入根尖周組織而導(dǎo)致治療失敗。根管的清潔程度影響根充材料與根管壁的密閉性，其中玷污層是影響根管系統(tǒng)嚴(yán)密封閉的主要因素。去除玷污層的方法，國內(nèi)外的研究較多，包括化學(xué)方法、超聲方法和激光方法，但沒有任何一種方法可以完全去除玷污層，尤其是根尖1/3玷污層的去除一直是研究的焦點(diǎn)。嘗試將各種方法聯(lián)合起來應(yīng)用去除玷污

2、層的報(bào)道較少。本實(shí)驗(yàn)運(yùn)用掃描電鏡對(duì)五種不同的方法去除玷污層的效果進(jìn)行比較，并聯(lián)合高溫?zé)嶙⒀滥z充填使用染料滲透和透明牙技術(shù)對(duì)冠方封閉能力進(jìn)行微滲漏檢測(cè)，以便于為臨床提供理論依據(jù)。 方法：選取72顆新鮮拔除的單根管牙，在釉牙骨質(zhì)界處切去牙冠，將牙根隨機(jī)分成6組，每組12顆。所有牙根使用PROTAPER鎳鈦手用擴(kuò)大器械采用冠向下法預(yù)備至30＃06錐度，然后分別用次氯酸鈉(NaCLO)+乙二胺四乙酸(EDTA)凝膠(B組)、超聲波(C組

3、)、脈沖Nd：YAG激光(D組)、超聲+NaCLO+EDTA凝膠(E組)、超聲+NaCLO+EDTA凝膠+脈沖Nd：YAG激光(F組)處理玷污層，一組做對(duì)照組(A組)對(duì)玷污層不處理。其中每組的2顆牙頰舌向縱剖開，掃描電鏡下觀察比較各組冠1/3、中1/3、尖1/3的根管清潔程度、玷污層的去除情況以及牙本質(zhì)小管的開放程度；每組其余的10顆牙使用Obtura Ⅱ高溫?zé)嶙⒀滥z進(jìn)行根管充填，充填后的牙齒在37℃，100％濕度條件下保存48h，然后

4、置于2％亞甲基藍(lán)染色液中染色一周，通過系列脫鈣、脫水制作透明牙，使用體視顯微鏡和根管顯微鏡照相，計(jì)算從根管口至染料滲入的最大深度，使用SPSS軟件對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行方差分析。 結(jié)果： 1、掃描電鏡觀察：對(duì)照組整個(gè)根管內(nèi)壁有玷污層及大量碎屑，牙本質(zhì)小管被堵塞；NaCLO+EDTA凝膠組與超聲波組根管內(nèi)壁清潔，玷污層消失，牙本質(zhì)小管口開放，冠1/3、中1/3效果優(yōu)于尖1/3；脈沖Nd：YAG激光組根管內(nèi)壁牙本質(zhì)小管封閉或半封閉，玷污

5、層熔融消失；超聲+NaCLO+EDTA凝膠組根管內(nèi)壁清潔，玷污層消失，在冠1/3偶爾可見牙本質(zhì)小管有過度腐蝕現(xiàn)象；超聲+NaCLO+EDTA凝膠+激光組根管內(nèi)壁光滑清潔，玷污層熔融，牙本質(zhì)小管封閉，尖1/3的清潔程度明顯優(yōu)于其它各組。 2、冠滲漏檢測(cè)：各實(shí)驗(yàn)組染色深度分別為2.15±0.38mm，1.75+0.28mm，2.02±0.37mm，1.73±0.36mm，1.33±0.30mm，1.20±0.33mm，去除玷污層的各組冠方染

6、色深度均小于對(duì)照組，但超聲組與對(duì)照組統(tǒng)計(jì)學(xué)差異不顯著(P>0.05)，其余各組與對(duì)照組有顯著性差異(P<0.05)；B、C、D組間比較差異不顯著(P>0.05)；但與E、F組均有顯著性差異(P<0.05)；E組與F組比較差異不顯著(P>0.05)。 結(jié)論： 1、缺乏冠部封閉的根管充填，不能有效地組阻止冠滲漏的發(fā)生，所以根管治療后應(yīng)該盡快進(jìn)行冠部的修復(fù); 2、玷污層的存在影響了根管充填材料與根管壁的適合性，去除玷污