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文檔簡介
1、現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)是一種現(xiàn)場可編程專用集成電路,它將門陣列的通用結(jié)構(gòu)與現(xiàn)場可編程的特性結(jié)合于一體,如今,F(xiàn)PGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一。隨著FPGA器件的廣泛應用,它在數(shù)字系統(tǒng)中的作用日益變得重要,它所要求的準確性也變得更高。因此,對FPGA器件的故障測試和故障診斷方法進行更全面的研究具有重要意義。隨著FPGA器件的迅速發(fā)展,F(xiàn)PGA的密度和復雜程度也越來越高,使大量的故障難以使用傳統(tǒng)方法進行測試,所以人們把視線轉(zhuǎn)向
2、了可測性設計(DFT)問題??蓽y性設計的提出為解決測試問題開辟了新的有效途徑,而邊界掃描測試方法是其中一個重要的技術。 本文對FPGA的故障模型及其測試技術和邊界掃描測試的相關理論與方法進行了詳細的探討,給出了利用布爾矩陣理論建立的邊界掃描測試過程的數(shù)學描述和數(shù)學模型。論文中首先討論邊界掃描測試中的測試優(yōu)化問題,總結(jié)解決兩類優(yōu)化問題的現(xiàn)有算法,分別對它們的優(yōu)缺點進行了對比,進而提出對兩種現(xiàn)有算法的改進思想,并且比較了改進前后優(yōu)化
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