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文檔簡介
1、電子散斑干涉測量(Electronic Speckle Pattern Interferometery，簡稱ESPI)技術(shù)廣泛應(yīng)用于光學粗糙表面的變形測量和無損檢測等方面，通過求取電子散斑干涉條紋圖的相位信息可以得到物體的位移或者變形量。本文主要研究ESPI條紋圖相位信息提取中的兩項關(guān)鍵技術(shù)，即條紋圖的骨架線提取方法及相位插值方法，并通過對模擬條紋圖和實驗條紋圖進行分析驗證算法的性能，主要研究工作概述如下：
提出了基于偏微分方
2、程和梯度矢量場散度分析的骨架線提取方法。該方法將條紋的方向特性應(yīng)用于各向異性偏微分方程模型中，用此模型對圖像的梯度矢量場進行調(diào)整，更好地保留了原始圖像的拓撲性質(zhì)。通過分析調(diào)整后梯度矢量場的散度特性，判斷骨架點的位置，從而提取出圖像的骨架線。實驗表明該方法可應(yīng)用于低對比度、不同閉合狀態(tài)、不同疏密條紋分布的干涉圖骨架線提取中。
通過研究ESPI條紋圖的相位插值，提出了基于偏微分方程的相位插值方法。該方法將骨架線上的相位值當作能量來
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