基于軟件自測試方法的DSP處理器功能測試.pdf

1、DSP處理器具有可重復性、可編程性、穩(wěn)定性及可移植性等特點，在數(shù)字信號處理相關領域得到了非常廣泛的應用，如儀器儀表、圖像處理、語音識別、醫(yī)療、軍事、家用電器、工業(yè)控制、無線通信等。有業(yè)內(nèi)人士曾經(jīng)預言：在集成電路領域，DSP將會成為未來發(fā)展最快的產(chǎn)品。
　　正是由于這些原因，大量 DSP芯片的相關企業(yè)，包括生產(chǎn)、研發(fā)、應用單位不斷出現(xiàn)。與其他產(chǎn)品一樣，DSP芯片需要能夠工作在不同應用環(huán)境下，并且保持穩(wěn)定狀態(tài)，所以對其進行測試是必不可

2、少的。集成電路的測試方法有很多種，也具有很多通用的測試標準，本文重點研究的就是選擇一種高故障覆蓋率、低成本的測試方法。
　　集成電路設計進入深亞微米階段后，使用傳統(tǒng)測試方法，例如自動測試設備（Automatic Test Equipment, ATE）變得越來越困難。測試有效性和低測試成本是測試的前提，在這種前提下，許多可測性設計方法開始廣泛應用于測試中。已經(jīng)被證明的，針對大規(guī)模集成電路有效的測試方法為邏輯內(nèi)建自測試（LBIST）

3、方法。雖然LBIST不需要依靠ATE，但該方法并不是面向應用型的測試方法，在測試集成電路時還需要修改電路設計，而為了提高故障覆蓋率，有時還需要插入測試點，這樣就會增加硬件測試電路。這些缺點直接導致了測試過于復雜，甚至還會影響電路的性能。自從基于軟件的自測試方法（SBST）出現(xiàn)之后，人們逐漸被這種方法所吸引，相對于其他測試方法來說，它不需要修改電路設計，也不需要使用ATE，更不會影響電路的性能。
　　本文重點研究基于 SBST方法的