SoC測(cè)試中數(shù)據(jù)壓縮與降低功耗方法研究.pdf

1、隨著系統(tǒng)集成度與加工技術(shù)的飛速發(fā)展，特別是系統(tǒng)芯片(System-on-a-chip，SoC)的出現(xiàn)，集成電路進(jìn)入了一個(gè)新的發(fā)展時(shí)期。SoC技術(shù)采用IP(IntegratedCircuit)核復(fù)用的設(shè)計(jì)方法，將整個(gè)系統(tǒng)映射到單個(gè)芯片上，既可以縮短開(kāi)發(fā)周期，又可以減小產(chǎn)品體積，提高了系統(tǒng)整體性能，近年來(lái)得到了廣泛的關(guān)注。
　　 與SoC芯片高集成度和復(fù)雜度同時(shí)出現(xiàn)的，是其測(cè)試數(shù)據(jù)量、測(cè)試功耗也隨之增加?，F(xiàn)有的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE在存

2、儲(chǔ)容量、測(cè)試通道數(shù)等方面滿(mǎn)足不了測(cè)試需求，這對(duì)SoC測(cè)試提出了嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)，因而有必要對(duì)SoC測(cè)試資源進(jìn)行優(yōu)化，從而減少測(cè)試數(shù)據(jù)，降低測(cè)試功耗。
　　 本文從代碼的相關(guān)性、Huffman編碼的特點(diǎn)、掃描鏈的特點(diǎn)等方面入手，針對(duì)上述所提關(guān)鍵問(wèn)題展開(kāi)研究。
　　 首先，針對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)中無(wú)關(guān)位較多，可以對(duì)無(wú)關(guān)位根據(jù)需要進(jìn)行適當(dāng)賦值的特點(diǎn)，考慮無(wú)關(guān)位填充后代碼之間的相互關(guān)系，提出了兩種基于相容性和反向相容性的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方案，第一種

3、方案針對(duì)具有相容性和連續(xù)位的數(shù)據(jù)塊進(jìn)行編碼，后一種方案則針對(duì)具有相容性和反向相容性的數(shù)據(jù)塊進(jìn)行編碼，實(shí)驗(yàn)證明，二者均能很好的提高測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮率;
　　 其次，針對(duì)Huffman編碼的特點(diǎn)，提出了一種基于互補(bǔ)對(duì)稱(chēng)性的Huffman編碼方案，該方案屬于統(tǒng)計(jì)碼編碼方案的一種，不同于傳統(tǒng)的基于Huffman編碼的方案只對(duì)具有相容性的數(shù)據(jù)塊進(jìn)行編碼，該方案能同時(shí)對(duì)具有相容性和反向相容性的數(shù)據(jù)塊進(jìn)行編碼，實(shí)驗(yàn)證明，該方案優(yōu)于同類(lèi)基于Huff

4、man編碼的編碼方案;
　　 再次，在分析測(cè)試功耗產(chǎn)生原因的基礎(chǔ)上，提出了兩種低功耗測(cè)試方案?；跍y(cè)試向量重排序的方案將測(cè)試功耗問(wèn)題等效成旅行商(TSP)問(wèn)題，考慮到蟻群算法容易陷入到局部最優(yōu)，將遺傳算法融入到蟻群算法中，以找到最優(yōu)的向量順序，進(jìn)而降低測(cè)試功耗;基于掃描鏈修改的方法利用對(duì)掃描鏈修改不影響電路邏輯功能的特點(diǎn)，對(duì)掃描鏈的結(jié)構(gòu)進(jìn)行修改，從而減少數(shù)據(jù)傳遞間的跳變次數(shù)，降低測(cè)試功耗;
　　 最后，提出了一種基于掃描