版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、隨著系統(tǒng)集成度與加工技術(shù)的飛速發(fā)展,特別是系統(tǒng)芯片(System-on-a-Chip,SoC)的出現(xiàn),集成電路(Integrated Circuit,IC)進入了一個新的發(fā)展時期。SoC采用的是以復(fù)用知識產(chǎn)權(quán)(Intellectual Property,IP)核為主的設(shè)計技術(shù),將整個系統(tǒng)(或子系統(tǒng))映射到單個芯片上,極大縮短了開發(fā)周期,又可以縮小產(chǎn)品體積、提高系統(tǒng)整體性能。SoC的高集成度和復(fù)雜度為SoC測試帶來了挑戰(zhàn)。一般來說,SoC
2、測試時的功耗比其正常運行時的高得多,這將影響到集成電路的可靠性、性能、成本和電池壽命。同時隨著SoC集成IP核數(shù)目的增多,測試數(shù)據(jù)量和測試時間快速增加,使得測試成本顯著上升。 在SoC測試中,采用掃描結(jié)構(gòu)可提高電路內(nèi)部節(jié)點的可控制性和可觀察性。它已成功地應(yīng)用于當(dāng)前流行的可測性設(shè)計方法中,因此掃描測試中的低功耗方法受到學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的關(guān)注。測試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)是目前能夠解決SoC測試數(shù)據(jù)量問題的一種直接且有效的方法。該技術(shù)能在保證測試
3、質(zhì)量的前提下,有效地減少集成電路的測試數(shù)據(jù)量和測試時間。本文的主要工作如下: 針對低功耗測試問題,本文提出了一種基于選擇觸發(fā)的低功耗掃描鏈結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)是利用一個和掃描鏈等長的掃描移位寄存器,對傳統(tǒng)掃描鏈進行改造得到的。它有效地降低了傳統(tǒng)掃描鏈掃描移位過程中的動態(tài)功耗,并提高了掃描頻率,同時它所需要的測試數(shù)據(jù)為原始測試向量集的差分向量序列集合,編碼壓縮差分序列中連續(xù)“0”的測試數(shù)據(jù)后,在解壓測試時不需要分離的循環(huán)掃描移位寄存器(C
4、yclical Scan Register,CSR)。在ISCAS'89基準(zhǔn)電路上進行的實驗表明,該方法與傳統(tǒng)的串行掃描技術(shù)相比,能有效地降低掃描移位過程中的平均功耗。 針對測試數(shù)據(jù)壓縮問題,本文提出了一種新的基于連續(xù)和交替序列編碼的測試數(shù)據(jù)壓縮方案。該方案采用變長到變長的編碼方式對測試序列中連續(xù)的“0”和“1”以及交替變化位的長度進行編碼。代碼字由前綴和尾部組成,用前綴表明編碼的序列類型。通過分析可知該方案的解壓電路的結(jié)構(gòu)簡單
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- SoC測試中的低功耗與數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf
- 基于掃描測試的數(shù)據(jù)壓縮與低功耗測試研究與實現(xiàn).pdf
- SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法的研究.pdf
- 系統(tǒng)芯片SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf
- 針對SOC測試數(shù)據(jù)壓縮的編碼方法研究.pdf
- 基于Huffman編碼的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf
- SoC測試中的低功耗技術(shù).pdf
- SOC中的低功耗設(shè)計方法.pdf
- 基于分塊編碼的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf
- 基于向量優(yōu)化重組的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf
- 基于全掃描設(shè)計的SOC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf
- SOC測試數(shù)據(jù)壓縮與測試生成技術(shù)研究.pdf
- 協(xié)同優(yōu)化移位功耗和捕獲功耗的測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf
- 基于LFSR重新播種的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf
- 基于部分復(fù)用和統(tǒng)計的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf
- 基于編碼和逆向折疊的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf
- 基于SoC的測試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)研究.pdf
- 便攜式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的低功耗設(shè)計與數(shù)據(jù)壓縮算法.pdf
- SOC低功耗設(shè)計方法研究.pdf
- SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究——壓縮編碼技術(shù)和LFSR重播種技術(shù).pdf
評論
0/150
提交評論