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文檔簡介
1、本文對面向測試復(fù)用的測試環(huán)和SOC DFT結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)進(jìn)行了研究。文章介紹了面向嵌入式IP核測試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和IEEEP1500標(biāo)準(zhǔn)的研究狀況，重點(diǎn)研究了SOC系統(tǒng)級測試架構(gòu)的設(shè)計(jì)和IP測試環(huán)的選取與改進(jìn)，詳細(xì)分析了目前常用的幾種測試環(huán)結(jié)構(gòu)和測試環(huán)單元電路，提出了一種新的雙向傳輸測試環(huán)的思想，并給出了這種測試環(huán)單元電路的一種實(shí)現(xiàn)方法，保證在正常功能模式狀態(tài)或者某些特定測試狀態(tài)下，該測試環(huán)單元電路能夠在控制信號作用下，實(shí)現(xiàn)向IP核輸入數(shù)據(jù)或者讀
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