協(xié)同優(yōu)化移位功耗和捕獲功耗的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf

1、不斷縮小的工藝尺寸和超高的集成度使得集成在芯片上的晶體管數(shù)目急劇增加、功能越來(lái)越復(fù)雜,給VLSI測(cè)試帶來(lái)了更加嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。測(cè)試數(shù)據(jù)量大和測(cè)試功耗高是VLSI測(cè)試中的兩大主要問(wèn)題,它們已經(jīng)嚴(yán)重影響了測(cè)試成本,研究高壓縮率、低測(cè)試功耗的測(cè)試方法對(duì)降低測(cè)試成本十分重要。針對(duì)這個(gè)問(wèn)題,本文對(duì)協(xié)同降低移位功耗、捕獲功耗和提高測(cè)試壓縮率的方法展開了研究,所做的主要工作如下:
　　提出一種基于多級(jí)壓縮的低功耗測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方案。該方案先利用輸入精

2、簡(jiǎn)技術(shù)對(duì)原測(cè)試集進(jìn)行預(yù)處理,以減少測(cè)試集中的確定位數(shù)量,之后再進(jìn)行第一級(jí)壓縮,即對(duì)測(cè)試向量按多掃描劃分為子向量并進(jìn)行相容壓縮,壓縮后的測(cè)試向量可用更短的碼字表示,接著再對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行低功耗填充,先進(jìn)行捕獲功耗填充,使其達(dá)到安全閾值以內(nèi),然后再對(duì)剩余的無(wú)關(guān)位進(jìn)行移位功耗填充,最后對(duì)填充后的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行第二級(jí)壓縮,即改進(jìn)游程編碼壓縮。對(duì)ISCAS-89基準(zhǔn)電路的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本文方案能取得比golomb碼、FDR碼、EFDR碼、9C碼、BM

3、碼等更高的壓縮率,同時(shí)還能協(xié)同優(yōu)化測(cè)試時(shí)的捕獲功耗和移位功耗。
　　給出一種基于三態(tài)控制的低功耗LFSR重播種方法。該方法將掃描切片分為了三類,并用三態(tài)信號(hào)對(duì)每一類進(jìn)行編碼,從而有效地減少了測(cè)試集中的確定位數(shù)量。由于用三態(tài)信號(hào)對(duì)掃描切片標(biāo)記后,這些標(biāo)記中存在大量連續(xù)序列,本文對(duì)這些標(biāo)記做了進(jìn)一步壓縮。最后設(shè)計(jì)了一種低功耗解壓結(jié)構(gòu),通過(guò)該結(jié)構(gòu)可以生成低移位功耗的測(cè)試模式,并且在捕獲階段能夠禁止部分與故障觀察無(wú)關(guān)的掃描鏈捕獲測(cè)試響應(yīng)。